王同兴
- 作品数：71 被引量：55H指数：5
- 供职机构：中国原子能科学研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学核科学技术自动化与计算机技术医药卫生更多>>
- MC-ICP-MS测定国际比对尿样品中的铀
- 铀元素是环境监测中具有重要意义的元素。为了解各种仪器对微量和痕量级样品中铀同位素的测量能力,国际化学计量委员会的物质量咨询委员会(CIPM-CCQM)于2004年12月组织了尿样品中的铀同位素丰度测量方法的国际比对(CC...
- 赵永刚王同兴张继龙常志远李力力王琛
- 关键词：MC-ICP-MSURINEURANIUM
- SEM/SIMS含铀微粒分析质量控制方法的研究
- 本工作依据IAEA核保障分析实验室利用SIMS进行含铀微粒同位素比分析时采用的质量控制方法,结合实验室自身条件,通过研究微粒分析流程中各个环节出现的沾污和不同类型的质控样品,建立了一套SEM/SIMS微粒分析技术的质量控...
- 李少伟赵永刚王同兴李井怀沈彦张燕
- 关键词：交叉污染
- 利用稀土元素信息进行黄饼产地的溯源分析研究
- 核走私活动已经成为影响国际社会稳定安全的潜在威胁,而核法证学运用各种分析技术对截获的材料进行特征属性分析与溯源分析,已经成为打击核走私活动的一种重要工具.由于铀矿石浓缩物样品(黄饼)敏感性低、较容易获取且体系较为复杂,很...
- 朱留超王同兴徐常昆张燕赵兴红赵立飞赵永刚姜小燕
- 关键词：稀土元素
- SIMS分析含铀微粒同位素比测量条件的初步研究
- 环境取样(ES)是国际核保障的关键手段之一,其主要目的是为提高国际原子能机构探知未申报核活动的能力。微粒中反射性元素的同位素分析作为环境样品中的一种高灵敏度分析技术,已逐渐成为核保障环境监测的常规工具。含铀微粒中铀同位素...
- 沈彦王同兴赵永刚李少伟
- 关键词：SIMS分析同位素比环境样品
- 用于半导体或导体核材料中氧同位素的SIMS测量方法
- 本发明涉及一种用于半导体或导体核材料中氧同位素的SIMS测量方法，其过程为：步骤a,将样品进行处理并制作测量样品后，进行装样；清洗实验设备，设置测量参数，并对SIMS质谱仪进行调试；步骤b,加载样品后，对样品进行测量，分...
- 王同兴张生栋赵永刚张燕沈彦姜小燕鹿捷
- 一种TIMS测量铀氧化物中氧同位素比的测量方法
- 本发明提供了一种TIMS测量铀氧化物中氧同位素比的测量方法，该方法包括步骤：制备待测样品；将制备好的所述待测样品装样，装样后清洗样品室和飞行管道；选择法拉第杯作为TIMS的数据接收装置；调节所述待测样品的蒸发、电离温度以...
- 姜小燕王同兴张生栋赵永刚张燕任同祥鹿捷
- 核取证学研究在国内开展现状
- 王同兴赵永刚
- 戊基磷酸二戊酯萃取色层分离-电感耦合等离子体质谱法测定铀产品中9种杂质元素被引量：7
- 2015年
- 铀产品中杂质元素的含量测定在核法证学溯源分析或燃料元件厂质量检验中具有重要应用价值，保证测量的准确度主要在于控制流程空白、提高杂质元素的回收率。本文建立了戊基磷酸二戊酯（ UTEVA ）树脂快速分离铀与杂质元素、电感耦合等离子体质谱法（ ICP-MS）测定杂质元素含量的系统流程。结果表明，UTEVA树脂对铀的吸附能力强，铀样品取样量为16.43 mg时，全流程对铀的去污因子大于3＆#215;105，9种杂质元素（锰钼镍铜铬铝钛钒镉）的回收率为95.1%~105.1%，国家标准物质GBW04205中杂质元素的分析结果与参考值在不确定度（ k＝2）范围内一致。本工作建立的分离流程对铀的去污效果好，特别适用于样品量少的情况下铀中杂质元素的分析，为核法证分析最终的归因溯源或燃料质量检验提供了技术支持。
- 朱留超王同兴赵永刚徐常昆赵立飞姜小燕赵兴红
- 关键词：电感耦合等离子体质谱法
- 一种以导电胶为载体的擦拭样品的微粒回收方法
- 本发明公开了一种以导电胶为载体的擦拭样品的微粒回收方法，该方法首先将石墨碳片放在无水乙醇中清洗1～2分钟，取出待其干燥，然后将导电胶覆盖在石墨碳片上；然后将回收载体装入回收装置中进行微粒回收，回收过程在真空状态下进行4～...
- 王同兴张燕赵永刚李少伟李井怀沈彦
- SIMS含铀微粒同位素比分析中多原子离子影响及消除方法研究被引量：3
- 2019年
- 实际环境样品基体成分十分复杂,多原子离子对二次离子质谱(SIMS)单微粒铀同位素比分析的影响不可忽略。本文实验分析了Pb、Ni、Zn、Si的多原子离子在SIMS单微粒铀同位素比分析中的干扰,并分别采用提高质量分辨率以及根据核素离子强度扣除其多原子离子的方法对结果进行校正。结果表明:Pb和Ni的多原子离子会影响含铀微粒次同位素比的测量,对铀主同位素比的影响可忽略;Zn和Si的多原子离子对铀主、次同位素比测量均基本无影响。将质量分辨率提高至800,能完全消除Ni多原子离子的影响,Ni-CRM U030混合(Ni粉混合CRM U030)微粒^(234)U/^(238)U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于5%,^(236)U/^(238)U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于15%;Pb多原子离子干扰无法通过提高质量分辨率进行消除,根据Pb离子强度扣除其多原子离子后,Pb-CRM U030混合微粒的^(234)U/^(238)U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于10%,^(236)U/^(238)U同位素比测量值与参考值之间的相对偏差基本好于50%。将以上消除干扰的方法应用于真实样品分析,结果表明,其有效消除了多原子离子带来的干扰。
- 沈彦王同兴王琛张燕赵永刚
- 关键词：SIMS
