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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

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机构

  • 1篇中国科学院微...

作者

  • 1篇魏珂
  • 1篇曹振亚
  • 1篇王润梅
  • 1篇牛立华
  • 1篇罗明雄
  • 1篇刘训春

传媒

  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇2003
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
适用于阵列波导光栅制作的厚SiO_2陡直刻蚀技术被引量:5
2003年
采用 ICP- 98型高密度等离子体刻蚀机进行了厚 Si O2 陡直刻蚀技术的研究 ,利用双层掩膜技术解决了“微掩膜现象”问题 ,刻蚀获得 12 .4 μm的陡直 Si O2 光波导剖面 ,并将这一刻蚀技术用于阵列波导光栅的制作中 .
魏珂刘训春曹振亚王润梅罗明雄牛立华
共1页<1>
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