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杨明红
作品数:
34
被引量:25
H指数:4
供职机构:
中国科学院上海光学精密机械研究所
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
金属学及工艺
化学工程
机械工程
电子电信
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合作作者
徐学科
中国科学院上海光学精密机械研究...
邵建达
中国科学院上海光学精密机械研究...
顿爱欢
中国科学院上海光学精密机械研究...
易葵
中国科学院上海光学精密机械研究...
吴福林
中国科学院上海光学精密机械研究...
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杨明红
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徐学科
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2011
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磷酸盐激光玻璃元件的装运箱
一种磷酸盐激光玻璃元件的装运箱,包括箱体、搭扣、合页、箱盖、箱盖密封槽、箱体密封条,通过所述的合页和搭扣将所述的箱盖密封槽和箱体密封条卡口密合,使所述的箱体与所述的箱盖构成一个密封体,其特点在于所述的箱体的一个端面设有湿...
单海洋
徐学科
贺洪波
杨明红
易葵
邵建达
文献传递
平板类光学元件环形抛光面形精调方法
本发明公开了一种平板类光学元件环形抛光面形精调方法,利用平板类光学元件在环抛过程中的热变形来调节其反射/透射面形变化,在抛光模面形保形期创造一种快速、可控的元件面形高低转化,能够大幅提升该类元件环形抛光反射/透射波前分布...
杨明红
邵建达
张弛豪
吴伦哲
徐学科
文献传递
用于大口径光学玻璃加工的沥青抛光胶盘的成型方法
一种用于大口径光学玻璃加工的沥青抛光胶盘的成型方法,方形抛光胶采用浇注的方式成型,浇注模具包括一块底板,两块侧板,三块肋板和一块连接板。方形抛光胶拼盘过程中需要在底部使用酒精喷灯预热,并直接贴在大理石抛光胶盘底座上。之后...
吴伦哲
顿爱欢
杨明红
顾建勋
徐学科
李磊
马明
陈卫标
提高熔石英玻璃抗355nm激光损伤能力的实验研究
熔石英玻璃在光学加工过程中造成的亚表面缺陷(SSD)对其抗激光损伤的能力有严重的制约作用。本文通过实验详细研究了磁流变抛光技术和HF蚀刻技术在消除亚表面缺陷方面所起的作用。实验结果显示,经过最优方案处理后的样品相比未处理...
杨明红
齐红基
赵元安
易葵
关键词:
激光损伤
磁流变抛光
湿法刻蚀
文献传递
环抛过程沥青抛光模应力分布实时测量装置及测量方法
一种环抛过程沥青抛光模应力分布实时测量装置及测量方法,该装置包括压力传感器、处理器、滑环和计算机。将压力传感器埋入沥青抛光模内获得模拟信号,通过数据线将模拟信号传输至处理器,处理器包括AD数据采集模块和MCU模块,由处理...
杨明红
张慧方
徐学科
邵建达
吴伦哲
大型环抛机抛光胶盘平面度的测量装置及其测量方法
一种大型环抛机抛光胶盘平面度的测量装置,包括激光器底座、激光器、直线导轨、滑块、位置传感器和位置传感器底座。测量时,激光器和直线导轨一起放置在待测工件之上,二者不发生接触。滑块仅与直线导轨垂直面接触,位置传感器随滑块沿直...
徐学科
范永涛
邵建达
王哲
顿爱欢
杨明红
文献传递
环形抛光自动滴加抛光液装置
一种环形抛光自动滴加抛光液装置,由磁力搅拌器、塑料杯和输液器构成。本发明用于玻璃环形抛光过程中抛光液的自动滴加,具有价格便宜,塑料杯中各处抛光液的浓度和温度长时间稳定,自动滴加浓度均匀的抛光液,抛光液滴加速度容易控制,有...
吴福林
徐学科
单海洋
杨明红
陈国凯
张宝安
贺洪波
易葵
文献传递
环抛机工艺参数预测方法、系统、应用、终端及介质
本发明提供了一种环抛机工艺参数预测方法及系统,方法包括:数据获取及预处理;构建双LSTM网络关联模型,对所述双LSTM网络关联模型进行训练;利用训练后的关联模型,得到加工参数期望数据,完成对环抛机工艺参数的预测,得到面形...
邵建达
杨明红
张驰豪
昂鹏志
徐学科
文献传递
平板类光学元件环形抛光面形精调方法
本发明公开了一种平板类光学元件环形抛光面形精调方法,利用平板类光学元件在环抛过程中的热变形来调节其反射/透射面形变化,在抛光模面形保形期创造一种快速、可控的元件面形高低转化,能够大幅提升该类元件环形抛光反射/透射波前分布...
杨明红
邵建达
张弛豪
吴伦哲
徐学科
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大型环抛机蜡盘平面度的测量
被引量:8
2016年
针对大口径平面光学元件全频谱面形技术指标的高效率、高精度收敛,研究了环形抛光技术。考虑环抛机沥青蜡盘的平面度直接影响工件面形的收敛效率,本文利用准直激光束作为参考,设计研制了测量精度高,重复性精度达到±1μm的大型环抛机抛光蜡盘平面度测量专用装置。分析了环抛过程中蜡盘表面平面度和工件面型PV值之间的变化规律和相关性,根据测量数据得出了蜡盘平面度数据和工件面形的对应关系。实验显示:当平面度和面形曲线相差较大时,工件面形可快速收敛至1λ左右,并由粗抛向精抛工序快速过渡。提出的大型环抛机抛光蜡盘平面度监测装置实现了对湿滑胶体平面的高精度、快速测量,为环抛的确定性抛光工艺提供了重要的技术支持。
王哲
徐学科
邵建达
顿爱欢
杨明红
范永涛
方媛媛
高文兰
刘方
关键词:
平面度测量
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