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须国宗

作品数：3 被引量：5H指数：1
供职机构：中国科学院上海冶金研究所上海微系统与信息技术研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 1篇低功耗
  • 1篇硬件
  • 1篇硬件描述语言
  • 1篇石英钟
  • 1篇数字式
  • 1篇专用集成电路
  • 1篇描述语言
  • 1篇集成电路
  • 1篇功耗
  • 1篇VERILO...
  • 1篇CMOS
  • 1篇EPROM
  • 1篇大容量

机构

  • 3篇中国科学院上...

作者

  • 3篇须国宗
  • 1篇梁洪昌
  • 1篇余宽豪
  • 1篇范恒
  • 1篇徐元森

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇微处理机

年份

  • 1篇1997
  • 1篇1996
  • 1篇1989
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
Verilog-HDL在数字ASIC设计上的应用被引量：5
1996年
本文探索了在CADENCE环境下采用Verilog－HDL工具从顶到下设计ASIC的一般方法。工作着重在单元库的建立和RTL级的逻辑综合与优化技术。从系统功能出发，进行多层次设计，Verilog－HDL设计工具可以提供强有力支持。本文通过一个设计实例介绍了Verilog－HDL设计工具的应用。
须国宗梁洪昌黄焕章
关键词：专用集成电路硬件描述语言数字式
采用不同工艺的CMOS钟电路分析及设计
1997年
对早期开发的铝栅ＣＭＯＳ４．１９ＭＨｚ钟电路和近期研制的硅栅ＣＭＯＳ４．１９ＭＨｚ钟电路进行了详细分析比较。随着工艺技术的不断提高和设计改进，使得电路在降低功耗、减小面积方面更加完善，从而提高性能价格比。
余宽豪须国宗
关键词：低功耗石英钟
大容量EPROM的随机图形测试方法
1989年
基于对EPROM读写特性和故障模型的分析,本文提出了采用随机测试图形的EPROM功能测试方法.这不仅可提高译码电路故障的检测率,而且能切实地反映出存贮单元状态间的耦合故障,比使用传统测试图形的功能测试具有更大的优越性.在微机上由线性反馈移位寄存器产生随机图形并采用快速编程技术成功地实现了用随机图形对EPROM进行测试.
范恒须国宗徐元森
关键词：EPROM
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