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李益欢

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供职机构：华为技术有限公司更多>>

合作作者

题名
作者

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇通用接口
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片测试
  • 2篇芯片结构
  • 2篇连接器
  • 2篇母板
  • 2篇接口

机构

  • 2篇华为技术有限...

作者

  • 2篇林建军
  • 2篇杨文进
  • 2篇王宇
  • 2篇戈文
  • 2篇李春雷
  • 2篇李益欢
  • 2篇张欣

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2006
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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一种芯片通用测试装置及其构建方法
本发明公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接...
张欣杨文进李益欢王宇林建军戈文李春雷
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一种芯片通用测试装置及其构建方法
本发明公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接...
张欣杨文进李益欢王宇林建军戈文李春雷
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