马亮
- 作品数:6 被引量:14H指数:2
- 供职机构:中国科学院上海技术物理研究所更多>>
- 发文基金:国家高技术研究发展计划国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:理学机械工程自动化与计算机技术更多>>
- 采用帧转移CCD的Smear校正通道恢复饱和图像通道的方法研究被引量:4
- 2016年
- 海洋水色遥感应用对光学遥感仪器提出了高灵敏度与高精度的要求。本文研究的可见近红外成像光谱仪采用推扫扫描的方式,从而获得了较高的灵敏度;通过对系统进行杂散光定标和校正实现高精度测量。杂散光校正算法要求图像中所有目标信号不能饱和。由于仪器的动态范围针对水色目标设置,因而大部分图像通道高亮度的云目标信号会饱和,导致杂散光校正算法无法获得较好效果。以一台基于帧转移面阵CCD的推扫式可见近红外成像光谱仪为研究对象,通过分析系统设置的CCD Smear校正通道的成像机理,论证了在不同光源下Smear通道和各图像通道间均存在线性相关性,进而提出了一种利用Smear校正通道来恢复各图像通道饱和信号的方法,为星上高光谱图像的杂散光校正提供有效的数据源,也为饱和图像恢复提供了一种较为可行的方法。
- 张腾飞王宏博黄小仙危峻马亮
- 关键词:杂散光
- 一种针对使用背照减薄型CCD器件色散型成像光谱仪的星上光谱定标方法(英文)
- 2015年
- 使用背照减薄型CCD器件的色散型成像光谱仪在近红外波段会出现呈条带状干涉条纹现象,该干涉条纹对入射光波长分布敏感,空间频率稳定,特别适用于微小光谱偏差的测量与校准。针对一台光栅色散型推扫式成像光谱仪样机,先估计出条纹分布的规律,再以此为基础,采用频域滤波、最小二乘拟合等方法提取干涉条纹中包含的相位信息,以此作为光谱定标的辅助参数。实验表明,当入射光强变化达到130%以上时,拟合谱线位置的不确定度最大为0.007 3 nm,模拟光谱位置改变后,以汞灯谱线作为基准光谱位置曲线,测得拟合算法的最大误差为0.135 8 nm,该结果证明,干涉条纹拟合定标方法可有效减少定标系统对光源稳定性的依赖,提高对光谱维微小偏移量的检测精度。
- 马亮危峻黄小仙
- 关键词:光谱定标干涉条纹成像光谱仪
- 光栅色散型成像光谱仪的实验室光谱定标方法研究被引量:7
- 2013年
- 为了实现光栅色散型成像光谱仪的实验室光谱定标,采用1243×576光敏元的背照减薄型CCD面阵探测器,设计了一套光谱定标装置,实现了光谱定位精度±1nm的光谱定标方法。该方法多方考量了对光谱定标产生影响的因素,包括光源光谱分布、光栅分光效率、单色仪光谱带宽、谱线弯曲和Fringes现象。针对这些因素,提出了用于光谱波长定位校正的数学模型。光谱定标的结果表明:实验室光谱定标各像元平均光谱带宽为2.20nm,谱线弯曲最大值为0.925nm,弯曲方向符合理论方向。用汞灯等线谱光源进行复测,光谱定位误差最大值为0.6nm,符合预定的定标精度要求。
- 马亮危峻黄小仙崔毅张晓
- 关键词:光谱学光谱定标成像光谱仪单色仪
- 成像光谱仪的实验室光谱定标方法研究
- 为了实现对1024×576象元成像光谱仪的实验室光谱定标,设计了一套光谱定标装置,实现了精度±1nm 以内的光谱定标方法.该方法多方考量了对光谱定标产生干扰的因素,包括光源光谱分布,光栅分光效率,单色...
- 马亮危峻黄小仙崔毅张晓
- 关键词:SPECTRALSPECTROMETERMONOCHROMATORSPECTRALBEND
- 适用于推扫式成像光谱仪的CCD拖尾扣除方法被引量:2
- 2014年
- 拖尾(smear)现象是面阵CCD器件的固有问题。在推扫式成像光谱仪中,拖尾对成像的作用形式较为特殊,传统的扣除方案已不再适用,急需新的适合这一应用场合的方法。通过建立光谱仪中拖尾现象的数学模型,分析并仿真了常规拖尾扣除方法的失真问题,提出了适合推扫式光谱仪器的新方法。新方法使用已知图像信息估计景物的光谱分布,以此计算光学暗行通道所代表的拖尾信号在每个应用通道中的贡献,进而实现拖尾现象的扣除。遥感图像处理结果的较为理想的LSF表明,新方法效果良好,适用于推扫式成像光谱仪中CCD拖尾现象的扣除。
- 崔毅危峻汤瑜瑜马亮
- 关键词:CCD拖尾现象
- 使用背照减薄型CCD的色散型超光谱成像光谱仪中近红外波段干涉条纹现象的研究与校正被引量:1
- 2014年
- 使用背照减薄型CCD器件的色散型超光谱成像光谱仪在近红外波段会出现条带状干涉条纹,严重影响其在近红外波段附近的光谱分辨率。为解决该现象,建立了类似于法布里-珀罗干涉仪的多光束干涉模型,估算出700~900 nm范围内干涉条纹的强度分布并以实测数据对该模型进行了验证,分析了CCD光敏区厚度和干涉现象之间的关系。在此基础上,采用包括频域滤波在内的改进的平场校正算法,对干涉条纹的图像进行了校正,在751.83~1010.04 nm的范围内,校正效率达到96.6%,试验结果表明,该算法可有效的消除超光谱成像光谱仪近红外波段上的干涉条纹现象,提高光谱分辨率。
- 马亮危峻黄小仙
- 关键词:图像处理干涉条纹成像光谱仪