您的位置: 专家智库 > >

盛篪

作品数:37 被引量:73H指数:5
供职机构:复旦大学物理学系应用表面物理国家重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市青年科技启明星计划国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 37篇中文期刊文章

领域

  • 32篇电子电信
  • 6篇理学
  • 2篇一般工业技术

主题

  • 17篇分子束
  • 17篇分子束外延
  • 11篇SI
  • 10篇晶格
  • 10篇超晶格
  • 9篇
  • 7篇XSI
  • 5篇发光
  • 5篇分子束外延生...
  • 4篇应变层
  • 4篇SI(111...
  • 4篇X
  • 3篇衍射
  • 3篇氧化硅
  • 3篇应变层超晶格
  • 3篇光致
  • 3篇光致发光
  • 3篇硅基
  • 3篇红外
  • 3篇RHEED

机构

  • 36篇复旦大学
  • 4篇中国科学院
  • 1篇北京大学
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 37篇盛篪
  • 14篇王迅
  • 14篇龚大卫
  • 12篇张翔九
  • 12篇樊永良
  • 8篇周国良
  • 7篇蒋维栋
  • 6篇陈可明
  • 5篇林峰
  • 4篇杨小平
  • 4篇卫星
  • 3篇刘晓晗
  • 3篇王建宝
  • 2篇卢学坤
  • 2篇陆昉
  • 2篇李炳宗
  • 2篇俞敏峰
  • 2篇万钧
  • 2篇杨宇
  • 2篇吕宏强

传媒

  • 14篇Journa...
  • 12篇物理学报
  • 3篇物理
  • 2篇红外与毫米波...
  • 2篇自然科学进展...
  • 2篇真空科学与技...
  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇国际学术动态

年份

  • 2篇1999
  • 5篇1998
  • 1篇1997
  • 2篇1996
  • 2篇1995
  • 5篇1994
  • 1篇1993
  • 4篇1992
  • 5篇1991
  • 8篇1990
  • 1篇1989
  • 1篇1981
37 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Si(111)分子束外延生长时RHEED强度振荡的观察
1989年
本文报道用反射式高能电子衍射的强度振荡测量来观察Si(111)衬底上分子束外延的生长行为,观察到了双原子层的振荡模式。振荡的衰减和恢复特性不同于Si(100)衬底上的生长行为,而同GaAs分子束外延时的特性非常相似。
金高龙陈可明盛篪周国良蒋维栋张翔九
关键词:SI分子束RHEED振荡
Ge/Si超晶格喇曼谱研究被引量:2
1991年
我们用喇曼光散射的方法,观察了应变层超晶格的折迭声学声子,从而验证了材料的超晶格多层结构.将实验中观察到的频率和理论计算值进行比较表明,所研究样品的标称值和喇曼实验是基本相符合的.根据光学限制模的频率移动,估算了超晶格样品中Ge层和Si层的应变分布.
金鹰张树霖秦国刚盛篪周铁城
关键词:喇曼散射超晶格散射谱GE/SI
分子束外延系统中生长Si/SiO_2超晶格及其发光被引量:2
1998年
在硅分子束外延(MBE)系统中,利用Si和O2共淀积的方法生长出化学配比理想的SiO2。
林峰盛篪龚大卫刘晓晗
关键词:分子束外延二氧化硅超晶格
用分子束外延在多孔硅衬底上外延单晶硅来实现SOI结构被引量:7
1991年
用 HF溶液对单晶Si片进行阳极化处理,形成多孔 Si.将多孔Si衬底放入超高真空室在小剂量的Si原子束辐照下进行加热处理,在较低温度下(725—750℃)获得了清洁有序的表面.用分子束外延在多孔Si上生长了1-2μm的单晶Si膜,其卢瑟福背散射沟道产额极小X_(min)<3%,表明外延膜的单晶性能良好.SOI结构已通过随后的侧向氧化多孔Si层获得.
周国良盛篪樊永良张翔九俞鸣人黄宜平
关键词:分子束外延单晶硅SOI结构
用喇曼光谱表征锗硅应变层超晶格被引量:1
1990年
对Ge_xSi_(1-x)/Si超晶格的喇曼光谱研究表明,这类样品中各层间的应力分配取决于缓冲层组分。合金层中的Ge—Si峰峰移δω随组分x或应变ε作线性变化。对Ge_n/Si_n(n为原子层数)超晶格的喇曼光谱研究表明,在n=4的超薄层超晶格中,锗硅界面互混程度较小,并发现样品的生长温度对其质量有决定性影响。
徐建国王建宝盛篪孙恒慧郑思定姚文华
关键词:喇曼光谱锗硅应变层超晶格
电子衍射条件对Si(111)外延时反射式高能电子衍射强度振荡的影响被引量:2
1990年
本文研究了不同电子衍射条件对Si(111)外延时的反射式高能电子衍射(RHEED)强度振荡的影响,在保持生长条件不变的情况下,沿[112]方位观测时,不同入射角下其强度振荡的相位和初始瞬态响应变化很大,甚至会发生180°相位变化,而在[011]方位观测时,其相位的变化不明显,结合Si(111)面的RHEED强度摇摆曲线测量结果,表明这种与电子衍射条件有关的振荡特性变化,实际上反映了由电子多重散射机理引起的RHEED强度振荡两种情形,对RHEED强度的初始瞬态响应机理也作了探讨。
陈可明周铁城樊永良盛篪俞鸣人
关键词:电子衍射SI分子束外延RHEED
Si(111)分子束外延的生长动力学过程研究
1990年
本文用反射式高能电子衍射(RHEED)强度振荡研究了不同生长温度下Si(111)分子束外延的生长动力学过程,生长温度高于520℃(生长速率约0.15A/S)时,Si(111)外延为“台阶流”生长模式,生长温度低于475℃时,外延为“二维成核”双原子层生长模式,在较低温,甚至室温时,其外延仍为双原子层模式,但是镜向弹性散射束振荡和非弹性散射束振荡的叠加会造成RHEED强度在生长的最初阶段出现“类单原子层”模式的振荡特性。
陈可明金高龙盛篪俞鸣人
关键词:SIRHEED分子束生长动力学
新型硅基异质结和量子阱红外探测器
1994年
介绍了近年来新发展起来的几种硅基远红外探测器件,其中包括硅化物/GeiSi1-x肖特基势垒型探测器、锗硅异质结内光电发射型探测器、锗硅/硅多量子阱型探测器和掺杂阱型探测器,并就这些器件的工作原理及影响其响应率、截止波长和工作温度的因素分别进行了讨论和比较。
龚大卫张翔九盛篪王迅
关键词:异质结红外探测器
9μmp^+—GexSi1—x/p—Si异质结内光电红外探测器被引量:1
1994年
用分子束外延方法生长了p+-GexSi1-x/p-Si异质结,并用平面工艺制成了内光电红外探测器,器件截止响应波长达9μm,在52K时,Rv500K=3.3×103V/W.
龚大卫卢学坤卫星杨小平胡际璜盛篪张翔九王迅周涛叶红娟沈学础
关键词:异质结锗硅合金红外探测器
Ge/Si超导型和Ge_xSi_(1-x)/Si合金型超晶格的分子束外延生长和特性研究
1990年
用分子束外延(MBE)技术生长了Ge/Si超薄型超晶格和Ge_xSi_(1-x)/Si合金型超晶格。用RHEED强度振荡技术生长出了非常陡峭和平整的Si/Ge异质结界面。在Si(001)上生长的一个单原子层Ge和一个单原子层Si的多层结构是可以得到的最薄的超晶格。合金型超晶格的厚度可满足器件制造的要求并避免了失配位错的产生。用XTEM、RBS及X射线衍射对外延晶体质量作了签定,用Raman谱和电调制反射谱对超晶格的光学特性进行了研究。
盛篪俞鸣人王迅
关键词:GE/SI超晶格分子束外延生长失配位错
共4页<1234>
聚类工具0