张宝林
- 作品数:158 被引量:76H指数:5
- 供职机构:吉林大学更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金吉林省科技发展计划基金国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域:电子电信理学一般工业技术自动化与计算机技术更多>>
- 基于n-ZnO/p-NiO结构的紫外光发射二极管的研究
- 赵洋张宝林杜国同王瑾张仕凯王辉夏晓川史志锋殷伟马艳董鑫
- 一种基于砷化镓/氧化镓PN异质结紫外光电探测器及制备方法
- 一种基于砷化镓/氧化镓PN异质结紫外光电探测器及制备方,属于半导体光电探测器技术领域。由Au电极、p‑GaAs衬底、UID‑Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>低温缓冲层、n(轻掺杂)‑Ga<Sub>2...
- 董鑫党新明焦腾于含张源涛张宝林
- 一种p型氧化镓纳米结构薄膜及其制备方法
- 一种p型氧化镓纳米结构薄膜及其制备方法,属于半导体薄膜材料制备技术领域。结构薄膜依次由GaSb单晶衬底、p型Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>纳米结构薄膜两部分组成。首先对GaSb单晶衬底加热,使其表...
- 董鑫陈威焦腾刁肇悌李政达张源涛张宝林
- 一种基于GaSb的Ga<Sub>x</Sub>In<Sub>1‑x</Sub>Sb/GaSb串联结构热光伏电池及其制备方法
- 一种基于GaSb的Ga<Sub>x</Sub>In<Sub>1‑x</Sub>Sb/GaSb串联结构的热光伏电池及其制备方法,属于热光伏电池技术领域。结构从上到下依次为:上电极、重掺杂的p+型ZnS窗口层、p型GaSb有...
- 张宝林吕游李国兴徐佳新徐德前
- 文献传递
- 一种高质量p型氧化镓纳米柱状结构薄膜及其制备方法
- 一种高质量p型氧化镓纳米柱状结构薄膜及其制备方法,属于半导体薄膜材料制备技术领域。依次由砷化镓(GaAs)单晶衬底、p型Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>纳米柱状结构薄膜两部分组成。首先对GaAs单晶...
- 董鑫陈威焦腾张源涛张宝林
- 一种高质量Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>薄膜及其异质外延制备方法
- 一种高质量Ga<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>薄膜及其异质外延制备方法,属于半导体薄膜材料制备技术领域。包括如下步骤:利用MOCVD在c面蓝宝石上外延GaN薄膜,制成GaN/蓝宝石基底;将GaN/蓝宝石...
- 董鑫张源涛李赜明张宝林李万程
- 文献传递
- 一种n‑SiC衬底AlGaN基垂直结构谐振腔紫外LED芯片及制备方法
- 一种n‑SiC衬底AlGaN基垂直结构谐振腔紫外LED芯片及其制备方法,属于半导体发光器件领域。其依次由下电极层、n‑SiC衬底、n‑Al<Sub>x0</Sub>Ga<Sub>1‑x0</Sub>N导电缓冲层、n‑Al...
- 张源涛李鹏翀杜国同闫龙韩煦董鑫张宝林
- 文献传递
- 缓冲层对Zn1-zMgzO薄膜电学特性的影响
- @@采用金属有机化合物汽相沉积法(MOCVD)在硅和玻璃衬底上生长出了较高质量的Zn1-xMgxO薄膜。二乙基锌(DEZn)和二茂镁(cp2Mg)分别作为Zn源和Mg源,通过高纯A汽的携带输运进入反应室内,高纯氧气作为氧...
- 夏晓川赵旺董鑫张宝林杜国同
- 文献传递网络资源链接
- p型MgxZn1-xO薄膜材料的制备与光学特性被引量:5
- 2008年
- 通过金属有机化学汽相沉积(MOCVD)法在GaAs衬底上生长出了MgxZn1-xO薄膜,通过氧气气氛下的高温退火使得衬底中的As原子通过扩散作用进入薄膜形成受主,得到p型的MgxZn1-xO薄膜。退火前后XPS谱中As(3d)峰的对比表明,MgxZn1-xO薄膜中存在As。电学测试结果表明:退火对样品的电阻率和载流子浓度的影响很大。这是长时间的氧气退火使得氧空位数目明显减少,从而使Zn—O键数量显著增加造成的。在样品的X射线衍射(XRD)谱中,p型样品的(002)衍射峰明显弱于n型样品。而在二者的光致发光(PL)谱中,都存在着很强的近带边发射(NBE)峰和较弱的深能级发射(DLE)峰,p型样品的NBE峰明显较弱而DLE峰却很强。这些现象是由于As原子的扩散,使薄膜中产生了新的缺陷能级,导致能级间的激子复合更加复杂。稳定的p型MgxZn1-xO薄膜的获得为制备MgxZn1-xO同质结和发光二极管奠定了基础。
- 董鑫赵旺张宝林李香萍杜国同
- 关键词:光致发光
- Au层退火温度对ZnO/Au/ZnO多层膜的结构、光学及电学性质的影响被引量:1
- 2012年
- 采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术在蓝宝石衬底上制备出晶体质量较好的透明导电的ZnO/Au/ZnO(ZAZ)多层膜,其中,Au夹层是通过射频磁控溅射的方法获得。通过对Au夹层进行不同温度的退火处理,研究了Au层退火温度对ZAZ多层膜的结构特性、电学性能和光学特性的影响。利用原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)仪、霍尔效应测试和透射谱分析等测试手段对ZAZ多层膜的性质进行了分析。测试结果表明,在200℃下对Au夹层进行快速退火处理,多层膜的结构、电学和光学性质达到最优,表面等离子体效应也更明显。其中,XRD(002)衍射峰的半高宽为0.14°,电阻率为2.7×10-3Ω.cm,载流子浓度为1.07×1020cm-3,可见光区平均透过率为75.3%。
- 张仕凯张宝林史志锋王辉夏晓川伍斌蔡旭浦高榕董鑫杜国同
- 关键词:射频磁控溅射退火温度