陈琨
- 作品数：15 被引量：7H指数：2
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- 一种磁力显微镜磁性探针磁化器
- 本发明提供的一种磁力显微镜磁性探针磁化器，它包括螺杆(4)、磁化器基座(3)，螺杆(4)的中心是一端开口、另一端封闭的凹槽(9)；磁化器基座(3)上有一观察槽(7)。强磁体(5)放置于螺杆(4)中的凹槽(9)中，螺杆(4...
- 王志红陈琨
- 文献传递
- 倾斜溅射制备TbFe薄膜的磁力显微镜研究
- 磁力显微镜(MFM)作为研究表面磁结构的有力工具广泛地应用于磁性薄膜的研究中。TbFe磁致伸缩薄膜在实际应用中要求易磁化轴平行于膜面,以具有较低的面内饱和场H(?),传统的成膜技术难以实现这一目标,采用倾斜溅射方法制备T...
- 陈琨王志红张金平周宇
- 关键词：磁力显微镜
- 文献传递
- TbFe磁性薄膜的磁力显微镜成像研究
- 2007年
- 利用磁力显微镜（MFM）对TbFe磁性薄膜进行了不同抬举距离（分别为60～780nm）的磁力成像研究．在实验中，比较了低抬举距离（100nm以下）磁力像中样品-针尖的互相干扰；同时发现在高抬举距离磁力像中，随着抬举距离的增大，出现了与高凸起形貌对应的图像衬度特征，并随抬举距离的变化也改变着位置与强度，一直到抬举距离为仪器的极限值780nm时，形貌干扰仍未消失，对其形成机制进行了分析．
- 王志红周宇沈博侃陈琨
- 关键词：磁力显微镜
- TbFe磁性薄膜的磁力显微镜成像研究
- 利用磁力显微镜(MFM)对 TbFe 磁性薄膜进行了不同抬举距离(分别为60～780nm)的磁力成像研究。在实验中,比较了低抬举距离(100nm 以下)磁力像中样品一针尖的互相干扰;同时发现在高抬举距离磁力像中,随着抬举...
- 王志红周宇沈博侃陈琨
- 关键词：磁力显微镜
- 文献传递
- 针尖参数对纳米软磁薄膜磁畴图像的影响
- 磁力显微镜(MFM)是在原子力显微镜(AFM)基础上发展起来的,它具有分辨率高、不破坏样品及样品无需特别制备等特点。磁力显微镜的探针是具有磁性镀层的磁性针尖,在磁性样品表面上扫描时能感受到样品杂散磁场产生的微小作用力,探...
- 陈琨王志红包生祥曾慧中李松霞戴林杉
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- 扫描探针显微镜在纳米材料表征中的应用被引量：5
- 2003年
- 报道了扫描探针显微镜在纳米电子薄膜材料的形貌、晶界、晶粒形状与尺度、表面粗糙度和剖面分析中的具体应用实例 ,以及纳米磁性薄膜中的微磁畴。
- 包生祥王志红李红霞曾慧中戴林杉陈琨
- 关键词：扫描探针显微镜纳米材料微结构
- 倾斜溅射制备TbFe薄膜的磁力显微镜研究
- 磁力显微镜(MFM)作为研究表面磁结构的有力工具广泛地应用于磁性薄膜的研究中,TbFe磁致伸缩薄膜在实际应用中要求易磁化轴平行于膜面,以具有较低的面内饱和场H<,s>,传统的成膜技术难以实现这一目标,采用倾斜溅射方法制备...
- 陈琨王志红张金平周宇
- 关键词：磁力显微镜
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- 磁力显微镜中磁力信号对形貌像干扰的研究
- 使用磁力显微镜（MFM）对硬磁盘、磁带以及TbFe非晶薄膜等硬磁材料进行检测磁力信号的过程中。由于针尖的磁化方向发生偏转以及仪器参数的不恰当设置,都容易使磁力信号和表面微结构信号间产生干扰。目前国内外文献中很少对干扰的消...
- 陈琨王志红
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- 利用磁力显微镜研究倾斜溅射对TbFe薄膜磁性能的影响被引量：2
- 2005年
- 磁力显微镜(MFM)作为研究表面磁结构的有力工具已广泛应用于磁性薄膜的研究。TbFe磁致伸缩薄膜在实际应用中要求易磁化轴平行于膜面,以获得较低的面内饱和场Hs。传统的成膜技术难以实现这一目标,采用倾斜溅射方法制备TbFe薄膜可有效降低面内饱和场Hs。通过测量样品的磁滞回线可以发现,易磁化轴随着溅射角度的增加逐渐偏离样品的法线方向,而取向于平行膜面。本研究工作利用MFM研究了不同溅射角度得到的TbFe薄膜的磁畴结构。发现薄膜的磁畴结构随着溅射角度的增加逐渐由垂直畴转化为水平畴,与磁滞回线测量得到的易磁化轴方向发生偏转的结果相吻合。
- 陈琨王志红张金平周宇
- 关键词：磁力显微镜易磁化轴磁致伸缩薄膜磁滞回线测量射角MFM
- 无需参考光谱的多色高速荧光激发光谱显微成像系统
- 本发明公开了一种无需参考光谱的多色高速荧光激发光谱显微成像系统，该系统包括宽带光源、激发波长选择器件、激发光扩束单元、滤波单元、信号控制与同步单元、显微激发和荧光探测系统，以及图像采集存储和图像分解部分。本发明在单一光源...
- 严锦鸿陈琨
