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文献类型

  • 2篇中文专利

领域

  • 1篇文化科学

主题

  • 2篇探针
  • 2篇膜层
  • 2篇近场
  • 2篇近场扫描光学...
  • 2篇孔径
  • 2篇光学
  • 2篇标样
  • 2篇测量方法

机构

  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇江潮
  • 2篇李江艳
  • 2篇李志远
  • 2篇张东香
  • 2篇沈电洪
  • 2篇宁廷银
  • 2篇王志芳
  • 2篇张泽渤

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
用于测量近场扫描光学显微镜探针孔径的标样和测量方法
本发明提供一种测量近场扫描光学显微镜探针孔径尺寸的标样,包括透光的基片(1)和在该基片(1)的表面上的不透光的膜层(2)组成;膜层(2)具有至少一个测量单元(3),每个测量单元(3)上包括至少两个矩形的无膜层区域构成,所...
李江艳张东香宁廷银王志芳江潮李志远沈电洪张泽渤
文献传递
用于测量近场扫描光学显微镜探针孔径的标样和测量方法
本发明提供一种测量近场扫描光学显微镜探针孔径尺寸的标样,包括透光的基片(1)和在该基片(1)的表面上的不透光的膜层(2)组成;膜层(2)具有至少一个测量单元(3),每个测量单元(3)上包括至少两个矩形的无膜层区域构成,所...
李江艳张东香宁廷银王志芳江潮李志远沈电洪张泽渤
共1页<1>
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