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张佑文

作品数:4 被引量:11H指数:2
供职机构:东南大学电子科学与工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 4篇发光
  • 3篇光谱
  • 3篇负阻
  • 3篇负阻现象
  • 2篇隧穿
  • 2篇发光光谱
  • 1篇电器件
  • 1篇电子隧穿
  • 1篇多层膜
  • 1篇多层膜结构
  • 1篇性能分析
  • 1篇势垒
  • 1篇双势垒
  • 1篇隧道结
  • 1篇结构特点
  • 1篇金属
  • 1篇绝缘
  • 1篇绝缘层
  • 1篇共振隧穿
  • 1篇光电

机构

  • 4篇东南大学
  • 1篇南京大学

作者

  • 4篇孙承休
  • 4篇张佑文
  • 3篇王茂祥
  • 3篇俞建华
  • 1篇聂丽程
  • 1篇魏同立

传媒

  • 2篇固体电子学研...
  • 1篇物理学报
  • 1篇电子学报

年份

  • 1篇2008
  • 2篇1998
  • 1篇1997
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
多层膜结构MIM隧道发光结的研究被引量:1
1998年
在普通MIM隧道发光结的基础上,制备了多层膜结构MIM发光结。这种结构的发光结含有两层氧化物绝缘层及双层MgF2。其发光性能优良,发光效率达10-6-10-5量级。测试表明,其光谱谱峰较普通MIM结有蓝移现象,并且I—V特性中存在强烈的负阻现象(NRP)。
王茂祥张佑文俞建华孙承休杜建洪
关键词:多层膜结构光谱负阻现象发光器件
金属/绝缘层/金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系被引量:5
1997年
在金属/绝缘层/金属(Metal/Insulator/Metal,MIM)隧道结发光中,粗糙度与表面等离电磁场量子(SurfacePlasmonPolariton,SPP)的耦合起着非常重要的作用.本文利用原子力显微镜摄得发光MIM隧道结粗糙表面的照片,研究了粗糙度分布的统计结果与测得的发光光谱之间的关系.
张佑文孙承休高中林孙曰俊
关键词:粗糙度发光光谱光电器件
双势垒隧道发光结的结构特点及其性能分析
2008年
成功地制备了Cu-Al2O3-MgF2-Au及Si-SiO2-Al-Al2O3-Au两种结构双势垒隧道发光结。由于双势垒结中第二栅存在着不同的分立能级,电子存在共振隧穿效应,使双势垒隧道结发光光谱的波长范围及谱峰位置比普通单势垒隧道结均向短波方向发生了移动。对双势垒隧道发光结的I-V特性测试表明,I-V曲线中存在着明显的负阻区,分析表明,负阻现象与电子的隧穿特性、表面等离极化激元(SPP)的激发及SPP的耦合发光之间相互关联。
王茂祥聂丽程张佑文俞建华孙承休
关键词:双势垒共振隧穿发光光谱负阻现象
金属-绝缘体-金属隧道发光结的电子隧穿和负阻现象被引量:6
1998年
薄膜AuAl2O3Al隧道结(MIMTJ)在产生可见光发射的同时表现出了明显的负阻现象.这种负阻现象的物理机制是由于结中产生了作为发光中介作用的表面等离极化激元(SPP)对隧穿电子的阻挡作用.通过MIMTJ的电子输运的电路模拟和IV特性的数值计算,揭示了SPP在IV特性曲线中的负阻。
俞建华孙承休王茂祥张佑文魏同立
关键词:电子隧穿隧道结
共1页<1>
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