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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇医药卫生

主题

  • 1篇电离室
  • 1篇射线
  • 1篇收片
  • 1篇X射线

机构

  • 1篇中国测试技术...
  • 1篇德阳电业局

作者

  • 1篇尹虹又
  • 1篇龚岚
  • 1篇雷虹
  • 1篇陈宇
  • 1篇余真
  • 1篇张友德

传媒

  • 1篇中国测试

年份

  • 1篇2012
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
基于电离室阵列测量X射线半值层实验的研究
2012年
目前测量X诊断医用辐射源的半值层的方法基本采用人工叠加吸收片,测量出射线穿透不同厚度吸收片后的照射量,从而采用绘图方法或插入法计算X诊断医用辐射源的半值层[1],该方法曝光次数多,光机损伤大,操作不方便。为了准确测量诊断X射线的辐射质,减少工作量,设计一种电离室阵列测量方案,通过单次测量不同厚度吸收片下的剂量值,根据衰减曲线插值计算得到给定千伏下的半值层。通过测试比较,电离室阵列测量方案操作简单,数据准确,曝光次数少,能减少光机的损耗,具有较高的应用前景。
龚岚张友德陈宇尹虹又余真雷虹
共1页<1>
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