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陶光仪

作品数:50 被引量:280H指数:9
供职机构:中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市科学技术发展基金更多>>
相关领域:理学天文地球化学工程金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 39篇期刊文章
  • 11篇会议论文

领域

  • 37篇理学
  • 4篇天文地球
  • 4篇化学工程
  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 2篇历史地理
  • 1篇冶金工程

主题

  • 36篇光谱
  • 33篇荧光
  • 32篇荧光光谱
  • 26篇X射线荧光
  • 25篇X射线荧光光...
  • 13篇光谱分析
  • 12篇荧光光谱分析
  • 12篇X射线荧光光...
  • 8篇悬浮液进样
  • 8篇进样
  • 8篇X射线
  • 6篇光谱法
  • 4篇悬浮液
  • 4篇荧光光谱仪
  • 4篇纳米
  • 4篇计算机
  • 4篇痕量
  • 4篇X-射线
  • 4篇XRF
  • 3篇电感耦合

机构

  • 48篇中国科学院
  • 10篇复旦大学
  • 1篇国家地质实验...
  • 1篇广州海洋地质...
  • 1篇浙江大学
  • 1篇武汉理工大学
  • 1篇中国科学院生...
  • 1篇安徽省地质实...

作者

  • 50篇陶光仪
  • 25篇吉昂
  • 15篇卓尚军
  • 10篇汪正
  • 9篇邱德仁
  • 8篇杨芃原
  • 3篇殷之文
  • 3篇石琼
  • 3篇刘红超
  • 2篇王庆广
  • 2篇刘尚华
  • 2篇马光祖
  • 1篇刘恩美
  • 1篇邹慧君
  • 1篇韩小元
  • 1篇陆晓明
  • 1篇张学华
  • 1篇张仕定
  • 1篇张中义
  • 1篇陈士萍

传媒

  • 10篇分析化学
  • 8篇光谱学与光谱...
  • 4篇化学学报
  • 3篇分析试验室
  • 2篇光谱实验室
  • 2篇理化检验(化...
  • 2篇无机材料学报
  • 2篇第五届全国X...
  • 2篇第五届全国X...
  • 1篇钢铁
  • 1篇岩矿测试
  • 1篇冶金分析
  • 1篇分析测试仪器...
  • 1篇光谱仪器与分...
  • 1篇中国搪瓷
  • 1篇科学技术与工...
  • 1篇理财(经济)
  • 1篇'02古陶瓷...
  • 1篇第八届中国化...
  • 1篇中国化学会第...

年份

  • 1篇2015
  • 2篇2009
  • 1篇2008
  • 7篇2006
  • 2篇2005
  • 1篇2004
  • 2篇2003
  • 5篇2002
  • 2篇2001
  • 1篇2000
  • 6篇1999
  • 3篇1998
  • 2篇1997
  • 2篇1996
  • 2篇1995
  • 4篇1994
  • 2篇1992
  • 3篇1991
  • 1篇1990
  • 1篇1989
50 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
X射线荧光光谱分析中基本参数的优化及其应用
本文对X射线荧光光谱分析中基体效应校正采用的理论影响系数法以基本参数进行了比较和优化,并考察了其对理论影响系数的准确性和实际样品分析结果准确性的影响.
卓尚军陶光仪吉昂
关键词:X射线荧光光谱分析
文献传递
悬浮液进样端视电感耦合等离子体发射光谱法直接测定二氧化钛中铌被引量:8
2005年
用聚丙烯酸胺(NH4PAA)为分散剂制备二氧化钛悬浮液,并以悬浮液进样端视电感耦合等离子体发射光谱法直接测定了二氧化钛中痕量杂质铌。研究了分散剂及分散剂的量和pH对二氧化钛悬浮液稳定性的影响,通过优化条件制备得到稳定和均匀的悬浮液。研究了端视电感耦合等离子体发射光谱分析悬浮液进样的性能。本方法的检出限为3 0 μg·L-1,相对标准偏差为3 1% (n =3,c=0 . 3mg·L-1)。
汪正陈天裕陶光仪杨芃原
关键词:电感耦合等离子体发射光谱法悬浮液进样二氧化钛发射光谱分析痕量杂质
X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究被引量:5
2006年
用X射线荧光光谱法测定了Fe基上Zn镀层的质量厚度;研究了厚度不同时选用不同谱线计算对测定结果的影响,发现在镀层质量厚度较小时(约<14mg/cm2)测量Zn元素的Kα线,质量厚度较大时选择Zn的Kα和Fe的Kα线共同计算,用纯元素和相似标样校正测定结果之间的偏差最小;用纯元素作校正标样测定了3个标准样品的Zn镀层质量厚度,计算结果与标准值符合得较好。
韩小元卓尚军王佩玲陶光仪
关键词:X射线荧光光谱
Minimate EDXRF谱仪在水泥工业分析中的应用被引量:3
1999年
Minimate EDXRF谱仪是由低功率X射线管、封闭式正比计数管和2048道分析器组成,可分析原子序数11以上的元素(其中钠和镁需通氦气).作者用该仪器分析了粉末状水泥中MgO、Al_2O_3、SiO_2、SO_3、K_2O、CaO和Fe_2O_3等组成,并对水泥生料的取样误差作了估计.结果表明,该仪器可满足水泥制品的控制分析.
吉昂卓尚军陶光仪
关键词:水泥
X射线荧光光谱定量分析中超轻元素的处理方法被引量:8
1999年
探讨了X射线荧光光谱定量分析中超轻元素的处理方法.在用de Jongh-Norrish方程进行定量分析时,对通常不能用X射线荧光光谱直接测定的超轻元素作为消去组分处理以计算理论α系数,然后再以100%减去测量组分和已知组分浓度总和的方法来获得较为准确的分析结果.用此法分析了铌酸钾锂晶体中的Li_2O和两种含硼玻璃中的B_2O_3,分别得到了与等离子体发射光谱法和化学滴定法相符的结果,其中B_2O_3的结果优于文献报道的散射系数法和直接测定法的结果.
卓尚军陶光仪殷之文言昂
关键词:X射线荧光光谱
薄膜及镀层试样组分和厚度的同时测定-XRF的重要应用领域之一
The brief history and principle of composition and thickness simultaneous determination on thin film and coati...
陶光仪
关键词:COMPOSITIONTHINFILMCOATINGXRF
用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO_2薄膜的组分和厚度被引量:2
2006年
在X射线荧光(XRF)分析中应用基于基本参数法的FP-Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99.999%石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜厚度及成分是可行的。
常建平谢毅陶光仪
关键词:X射线荧光光谱法
X射线荧光光谱法测定萤石中的氟、钙及二氧化硅被引量:20
1997年
提出用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融制样,以X-射线荧光光谱法定量测定萤石中CaF2、总钙和二氧化硅。经实际试样和标准试样检测,本法可用于实际试样分析,在CaF2含量为77%~98%时,其最大误差为0.60%。
陆晓明吉昂陶光仪
关键词:萤石X射线荧光光谱
铌酸钾锂的X射线荧光光谱分析被引量:2
1999年
提出了一种用X射线荧光光谱分析铌酸钾锂中Li_2O,K_2O和Nb_2O_5的方法.采用deJongh校正方程,将Li_2O当作消去组分,所得Li_2O的结果与ICP-AES法一致.同时建立了非破坏分析校正曲线.
卓尚军陶光仪殷之文吉昂
关键词:氧化锂氧化钾氧化铌X射线荧光光谱
提高X射线荧光理论计算相对强度准确度的研究被引量:4
1998年
通过与合成标样实测相对强度的比较,研究了影响XRF中理论计算相对强度准确度的主要因素,提出了μ+τ计算模式和一个混合的质量吸收系数(MAC)算法。
陶光仪卓尚军吉昂
关键词:X射线荧光光谱
共5页<12345>
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