陈昭宪
- 作品数：20 被引量：19H指数：2
- 供职机构：电子部更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程理学一般工业技术更多>>
- 元器件增长的信息跟踪及数据分析
- 1996年
- 在对产品进行“试验、分析与纠正”的过程中,每一项成功的纠正措施都会降低产品的废品率。产品废品率与其故障率之间有一定的内在联系。产品废品率反映了产品在某时刻的质量状况;产品故障率则反映了产品在某一时间区间内的质量状况。若记P为产品的废品率;记λ为产品的故障率,当产品母体服从指数分布时。
- 陈昭宪
- 关键词：电子元器件数据分析
- 鉴别寿命分布类型的树叶图法
- 在拟合检验、图估法、STTTT法的基础上，提出了一种鉴别分布类型和估计参数的新方法——树叶图法。利用这种方法，只需将观测样本的正则化失效累积间隔和正则化失效对数累积间隔，在树叶图上描点，就可以在指数分布、正态分布、对数正...
- 陈昭宪
- 关键词：可靠性物理学概率分布电子产品可靠性
- 消除失效模式的可靠性增长方式被引量：1
- 1996年
- 在各项可靠性试验中,电子元器件的失效模式不一定是单一的,有时经常有好几种失效模式同时存在.这时候就需要抓住主要矛盾,采取“各个击破”的方式来逐步地提高产品的可靠性。某集成电路原来存在有五种主要失效模式,如图1所示,其中“芯片键合引起的失效占总失效数的45％。针对这种失效模式,在工艺上采取纠正措施,用铝—铝超声焊代替金—铝热压焊,并增加磷处理工序后,芯片键合点的失效模式已全部消失,可靠性水平得到了提高.而在产品可靠性的新台阶上,第二种失效模式“
- 陈昭宪
- 关键词：可靠性电子元器件集成电路失效模式
- 电子元器件的可靠性增长
- 1995年
- 用于修复型产品的可靠性管理技术,也适用于不修复的寿命型产品,但对这类产品进行增长管理时,必须注意如下特点.a.这类产品的可靠性指标是失效率或MTTF等;b.这类产品通常都是批量生产的,它们的增长模型一般应采用离散型增长模型;c.对于这类产品一般应采取延缓纠正方式;
- 陈昭宪
- 关键词：电子元器件电子工业
- 电子元器件的有关可靠性试验被引量：1
- 1995年
- 可靠性试验是为了评价和分析产品的可靠性特征而进行的试验。试验包括有环境、筛选、交收验收、测定、鉴定验证、认证以及寿命与加速寿命试验等等。 可靠性增长试验是为暴露产品的薄弱环节,并证明改进措施能防止薄弱环节再现而进行的系列试验。从广义上来讲,凡属以改进产品的可靠性为目的而进行的试验都可以作为可靠性增长试验的一种手段,但要注意的是可靠性增长试验是一个有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进有效的一个过程。
- 陈昭宪
- 关键词：电子元器件可靠性
- 理想增长曲线的绘制
- 1994年
- 绘制理想增长曲线的主要问题,是要确定起始点、目标点以及增长率,即要确定(t_ι,M_ι)、(T_F,M_F)以及增长率m。 1 增长起点的确定 增长起点包括有起始可靠性水平M_ι和起始时间t_ι。 1)
- 陈昭宪
- 关键词：可靠性
- 可靠性数据库的构成及其功能
- 陈昭宪严玉兴杨仲森
- 关键词：可靠性管理数据库
- AMSAA模型的增长分析被引量：5
- 1995年
- AMSAA模型是杜安模型的改进型.杜安模型没有考虑数据的散布特性,1974年L.H.Crow指正,在区间(o,t]内系统的故障数N (t)服从的均值函数即数学期望为;E [N(t)]=at^b式中.N(t)为观察到的累积故障数,a为尺度参数,b为增长形状参数.在可靠性增长试验中,通过增长分析可以得到增长参数a和b的估计值.从而及时掌握产品当前的可靠性水平和预测未来的可靠性.并监控产品可靠性的增长速率.可靠性增长分析的主要内容有增长趋势分析、增长参数估计以及拟合优度检验等.
- 陈昭宪
- 关键词：AMSAA模型电子设备可靠性
- AMSAA模型的补充说明
- 1995年
- 1 增长趋势检验的其它方法 1.1 故障数据符合AMSAA模型时的趋势检验 前述的μ检验法适用于故障数据不符合AMSAA模型时的趋势检验;当故障数据符合AMSAA模型时,可按下列步骤进行趋势检验。
- 陈昭宪
- 关键词：AMSAA模型电子设备可靠性
- 电子元器件的可靠性增长方式被引量：1
- 1996年
- 电子元器件通常都是批量生产的,所以它们的增长过程一般是分阶段或按试验序列而逐步进行的.对它们进行增长分析时,通常应该采用离散型的增长模型。工程实践上,电子元器件的可靠性增长,可以采取试验比较法、消除失效模法以及阶段序列增长法等各种方式.试验比较法需要通过前后两次试验来分析产品的增长效果。第一次试验的目的,是要掌握产品的可靠性现状,摸清产品的存在问题;第二次试验的目的,则是要验证纠正措施的有效性,并检验其增长效果。
- 陈昭宪
- 关键词：电子元器件可靠性
