杨静玲
- 作品数：4 被引量：0H指数：0
- 供职机构：清华大学更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- PLA/ROM内测试逻辑标准单元法生成环境
- 1995年
- 1 引言 PLA(可编程逻辑阵列),由于其简单性、规则性和灵活性,已成为经济地实现ASIC及微处理器的结构之一。一般说来,人们选用PLA而不是用随机逻辑来设计微处理器中的控制器,现在ASIC的设计者也开始对PLA的可测性给予了更多的关注。在本文中,我们提出PLA/ROM的BIST测试模型。
- 孙义和杨静玲刘存真马槐楠
- 关键词：PLAROM内建自测试
- ＩＭＳ正品抄录法的程序实现
- 杨静玲孙义和
- 关键词：微型计算机电子测量输出功率测量
- 可测性设计的发展
- 1994年
- 可测性设计(DFT),在现有的测试方法越来越不能满足电路不断加大密度和复杂性的情况下,逐渐发展起来了。DFT技术是在芯片上建立相应的测试结构,以满足芯片自身及PC板测试的需要。 接触板上安装的极小间距的表面安装 (SMT器件的管脚去测试所在的板是极其困难的。边界扫描可以用来解决这类问题。 在器件级。
- 杨静玲
- 关键词：可测性设计表面安装技术
- 强化的ATPGs使得测试更可靠
- 1995年
- 自动测试程序生成器(ATPGs) 是产生高故障覆盖率,剔出废品的一种有效方法,这也就是为了解决:为什么有的时候,一个好的器件没有通过测试…或者相反,一个坏的器件却通过了测试。
- 杨静玲
- 关键词：程序生成器
