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项道才

作品数:32 被引量:13H指数:2
供职机构:中国电子技术标准化研究院更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术兵器科学与技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 17篇专利
  • 10篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 19篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 2篇兵器科学与技...
  • 1篇经济管理
  • 1篇机械工程
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇军事
  • 1篇文化科学

主题

  • 7篇电磁
  • 7篇电磁兼容
  • 7篇电路
  • 7篇集成电路
  • 6篇天线
  • 5篇电磁兼容测试
  • 4篇透镜天线
  • 4篇赫兹
  • 3篇运动图
  • 3篇运动图像
  • 3篇太赫兹
  • 3篇图像
  • 3篇清晰度
  • 3篇校准
  • 3篇抗扰度
  • 2篇低辐射
  • 2篇电磁辐射
  • 2篇信号
  • 2篇远场测试
  • 2篇鼠标

机构

  • 24篇中国电子技术...
  • 4篇中国电子技术...
  • 3篇工业和信息化...
  • 1篇桂林电子科技...
  • 1篇华中光电技术...
  • 1篇工业和信息化...

作者

  • 32篇项道才
  • 11篇王酣
  • 9篇崔强
  • 7篇殷玉喆
  • 4篇沙长涛
  • 3篇阚劲松
  • 3篇胡菊萍
  • 2篇胡菊萍
  • 2篇王文娟
  • 2篇王凯
  • 1篇沙长涛
  • 1篇桂邦豪
  • 1篇郭守君
  • 1篇莫玮
  • 1篇王文峰
  • 1篇赵昭
  • 1篇王文峰
  • 1篇王文娟
  • 1篇陈妍
  • 1篇张继平

传媒

  • 2篇安全与电磁兼...
  • 2篇电视技术
  • 2篇信息技术与标...
  • 1篇半导体技术
  • 1篇国外电子测量...
  • 1篇环境技术
  • 1篇计测技术
  • 1篇2013年全...

年份

  • 3篇2024
  • 2篇2023
  • 10篇2022
  • 6篇2021
  • 1篇2020
  • 1篇2015
  • 3篇2013
  • 1篇2012
  • 3篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2008
32 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置及方法
本发明提供了一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置及方法,包括:对受试IC无电磁干扰工作状态下的第一反馈信号进行采样并进行数据分析,装置根据数据分析结果与装置内预设的IC类型进行比对,识别出受试IC的类型,装置根据受...
陈梅双朱赛项道才叶畅崔强王酣陈世钢付君蔡利花刘喆李志鹏陈政宇
一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置及方法
本发明公开了一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置,包括由MCU控制芯片、串口转键盘鼠标芯片、USB键盘鼠标转串口芯片、电源供电电路、电磁干扰滤波及防护电路、MicroSD卡存储器、液晶显示模块、矩阵按键模块、实时时钟电...
朱赛项道才陈梅双叶畅崔强王酣张强付君蔡利花
低噪声放大器的注入损伤效应研究
2024年
低噪声放大器是射频前端电路中非常敏感的部分,易受到强电磁环境辐射经天线耦合所产生大电压/电流的影响,出现性能降级甚至损伤击穿等问题。文章以典型低噪声放大器作为研究对象,分别采用连续波和脉冲波信号对低噪声放大器开展注入损伤试验,以其增益作为主要参考参数,研究了低噪声放大器的注入损伤效应。分析了注入信号中心频率、脉冲重复频率和脉冲宽度等参数对低噪声放大器的损伤阈值的影响,旨在为射频电路器件级的电磁安全防护提供参考。
陈政宇李峙孙美秋崔强项道才
关键词:低噪声放大器损伤阈值
一种显示设备运动图像清晰度测试方法
本发明提供一种显示设备运动图像清晰度测试方法,其中,包括下列步骤:步骤A:高速相机连续拍摄并记录下显示器件或显示设备的运动测试条纹;步骤B:进行运动跟踪预处理,根据人眼视觉的运动跟踪效应,将多个连续帧的图像按照相对位置不...
殷玉喆胡菊萍项道才
文献传递
一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法
本发明提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法,包括:干扰信号发生单元产生射频干扰信号,通过屏蔽电缆或波导传递至位于全电波暗室内的极化天线,极化天线经过校准和调节,精准对准屏蔽箱体开孔的中心,再经过强场探头和场...
朱赛陈梅双项道才叶畅陈世钢崔强王酣张强付君蔡利花李志鹏
电源线传导敏感度测试系统
本实用新型提供了一种电源线传导敏感度测试系统,属于电磁兼容测试技术领域,该系统包括:电源线输入端口和电源线输出端口;10μF电容,用于连接在高电位线和回线之间;耦合变压器,所述耦合变压器的第一端与所述高电位线连接,所述耦...
叶畅付君项道才杨立茂朱赛王凯
文献传递
一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法
本发明属于电磁兼容测试领域,具体地说,涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法,该方法可用于替代传统的远场测试法,该方法包括:步骤1)布置紧缩场测试系统;步骤2)配置测试系统的校验路径;步骤3)计算测试...
刘喆叶畅蔡利花孙美秋项道才王酣
一种制备太赫兹透镜喇叭天线的方法
本发明属于太赫兹波通信天线技术领域,具体地说,涉及一种制备太赫兹透镜喇叭天线的方法,该太赫兹透镜喇叭天线包括:喇叭天线(1)和太赫兹透镜(2);将太赫兹透镜(2)覆盖在喇叭天线(1)的喇叭开口处,且二者为一体式结构,不可...
刘喆项道才王酣沙长涛
文献传递
一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置
本实用新型涉及集成电路测试技术领域,提供了一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置,包括:监视辅助主机、本地上位机,所述监视辅助主机包括主机控制芯片、主机功能电路和电磁防护系统;所述主机控制芯片与所述主机电路电连接,用...
陈梅双朱赛项道才叶畅崔强王酣陈世钢付君蔡利花刘喆李志鹏陈政宇
集成电路辐射发射典型测试方法对比研究被引量:1
2022年
TEM小室法和IC带状线法是目前集成电路辐射发射测试中的两种典型方法,测试方法的选用和对测试结果的处理是两种测试方法易混乱之处。基于两种测试方法的原理,分析了测试结果关联关系、IC高度和电压驻波比对测试结果的影响。测试数据表明,两种测试方法归一化后的测试结果基本一致,IC高度和电压驻波比对两种测试方法的测试结果有不同程度的影响,最后给出两种测试方法的选用建议。研究结果可为制造商、测试机构及用户等相关人员提供参考,有利于集成电路辐射发射性能评估的一致性。
陈梅双朱赛项道才崔强叶畅
关键词:集成电路
共4页<1234>
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