叶世旺
- 作品数：4 被引量：4H指数：1
- 供职机构：电子科技大学电子科学技术研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信航空宇航科学技术理学更多>>
- 一种模拟SET的脉冲产生方法被引量：1
- 2014年
- 提出一种基于PLL(Phase Locked Loop)的电子脉冲产生方法,利用该方法可以产生最小宽度为325ps的瞬态脉冲并对SRAM型FPGAs(Field Programmable Gate Arrays)中实现的组合逻辑电路进行SET传播特性的研究.实验结果表明该脉冲产生方法实现简单,可以在不改变电路布局布线的前提下,改变注入脉冲宽度,且由PLL相位计算出的理论脉冲宽度与实际测量误差小于3%.
- 叶世旺周婉婷
- 关键词：锁相环
- 单粒子瞬态效应硬件注入模型实现和仿真被引量：4
- 2014年
- 基于量化组合逻辑门延迟思想和扫描测试的方法,提出了一种适用于FPGA硬件模拟单粒子瞬态效应的门级注入模型.该模型考虑了电气掩蔽效应对脉冲传输的影响,通过该模型可以对组合电路任意逻辑门进行错误注入.基于该模型对ISCAS’85基准电路进行单粒子瞬态的研究,实验结果表明该脉冲产生方法高效,注入速度达到105 faults/s.
- 周婉婷靳丽娜叶世旺
- 关键词：扫描测试FPGA硬件模拟
- 深亚微米下SET故障模拟技术的研究
- 在宇宙空间环境中,存在着大量的高能带电粒子(如质子、电子、重离子等),由这些带电粒子诱发组合电路发生单粒子瞬态脉冲效应的频率变得越来越高。因此,在对电路进行单粒子影响的评估过程中,不能只考虑寄存器自身发生的单粒子翻转效应...
- 叶世旺
- 关键词：深亚微米电路仿真
- 文献传递
- 静态存储器多比特翻转的概率失效模型
- 2014年
- 针对静态存储器出现的多比特翻转,提出了一种软错误失效模型.以"生日重合"理论作为多比特失效统计的基础,将常用加固方式纠错码和周期刷新作为分析条件得到累积错误和非累积错误的概率失效模型.前者为相同容量存储器的不同字长结构提供了失效概率的数值分析,并为实际测试结果提供了一个理论参考;后者量化了刷新周期的选取对于误码率改善程度.仿真结果显示90nm体硅工艺下,累积错误模型与低能量质子测试结果相符合;非累积错误模型分析的刷新周期略高于实际结果.
- 周婉婷叶世旺李磊
- 关键词：静态存储器可靠性刷新
