2025年3月20日
星期四
|
欢迎来到佛山市图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
程士明
作品数:
1
被引量:0
H指数:0
供职机构:
复旦大学分析测试中心
更多>>
相关领域:
理学
更多>>
合作作者
马宇平
天津理工大学理学院材料物理研究...
余华
南开大学物理学院
张丽平
天津理工大学理学院材料物理研究...
郑震
天津理工大学理学院材料物理研究...
熊光楠
天津理工大学理学院材料物理研究...
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
1篇
中文期刊文章
领域
1篇
理学
主题
1篇
电子陷阱
1篇
光激励
1篇
光激励发光
1篇
红移
1篇
发光
1篇
SI
1篇
BAFBR:...
1篇
掺杂
机构
1篇
复旦大学
1篇
南开大学
1篇
天津理工大学
作者
1篇
严晓敏
1篇
熊光楠
1篇
程士明
1篇
郑震
1篇
张丽平
1篇
余华
1篇
马宇平
传媒
1篇
光电子.激光
年份
1篇
2004
共
1
条 记 录,以下是 1-1
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
X射线存储材料Si^(4+)掺杂BaFBr:Eu^(2+)中电子陷阱的研究(英文)
2004年
在BaFBr:Eu2 + 中掺入Si4+ 合成了一种新的X射线影像板材料 ,其主要光激励发光 (PSL)性能 ,如射线敏感度和长波可激发性都优于低价阳离子掺杂的BaFBr∶Eu2 + 。用喇曼和顺磁共振 (EPR)等手段表征了掺Si4+ 后BaFBr∶Eu2 + 中电子陷阱的结构 ,并根据此结构解释了其激发波长的红移量比其它低价阳离子掺杂都高的原因。
郑震
熊光楠
余华
张丽平
马宇平
程士明
严晓敏
关键词:
BAFBR:EU^2+
电子陷阱
红移
光激励发光
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张