研究了面状分布缺陷开口谐振环(split ring resonators,SRRs)组对三维左手材料的微波透射行为的影响.用电路板刻蚀技术制备了以六边形SRRs与金属铜Wires组合为结构单元的三维左手材料样品,利用波导法测量了含有不同空间取向面缺陷SRRs构成的三维左手材料X波段(8-12GHz)微波透射行为.实验表明,相对于无缺陷情形,面缺陷的引入使谐振峰谐振频率移动,且红移、蓝移的情况都存在;谐振强度明显下降,最多达到19.3 dB,相当于原来的46%;通频带宽在[315-817.5 MHz]范围变化.面缺陷的存在破坏了材料的周期性结构,导致形成新的电磁谐振条件、谐振峰发生变化.不同空间取向的面缺陷对材料周期性结构改变程度不同,其缺陷效应差异较大.相对于点缺陷、线缺陷,面缺陷效应更强.
金属开口谐振环(split ring resonators,SRRs)是组成负磁导率结构材料的基本结构单元。本文利用波导法系统地研究了六边形SRRs的微波透射、吸收以及传输相位随频率的变化特性。实验结果表明:单个SRRs的谐振频率随内外环间距的增加而减小,且传输相位在谐振频率处发生跃变;两个SRRs间的相互作用随其间距的变化而变化,即谐振频率随间距的增加而增加,且在谐振频率处吸收出现最大值;多个以一定间距排列的SRRs列的电磁谐振行为可由环的开口大小调控,且谐振频率随开口间距的增加而增加。SRRs电磁谐振行为的研究对于左手材料的制备具有一定的指导意义。
