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吴忠俊

作品数：3 被引量：2H指数：1
供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇重复定位精度
  • 1篇自动测试仪
  • 1篇限位开关

机构

  • 3篇中国科学院上...

作者

  • 3篇吴忠俊
  • 2篇孙晶矾
  • 2篇李锡善
  • 2篇甘柏辉
  • 1篇陈秋水

传媒

  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇计量技术
  • 1篇中国激光

年份

  • 1篇1993
  • 1篇1992
  • 1篇1990
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
光盘表面缺陷的快速分类与质量评价
1993年
本文介绍一种利用多通道脉冲宽度鉴别技术直接对光盘表面或光盘盘片表面缺陷进行快速分类和统计的方法和实验结果。通过对聚焦激光束扫描盘面获得的缺陷信号的脉冲宽度分类,统计各类缺陷个数,计算缺陷密度值,有效地评价光盘表面的性能质量。
吴忠俊李锡善甘柏辉孙晶矾
限位开关重复定位精度的简单测试被引量：2
1990年
本文介绍对限位开关重复定位精度进行测试所搭建的实验装置和测试方法。给出了一些测试结果和定性分析。
陈秋水吴忠俊
关键词：限位开关
光盘盘基缺陷自动测试仪
1992年
本文介绍了一台用于评价光盘和盘基表面缺陷特性的自动测试仪器。仪器采用伺服聚焦的激光束扫描高速转动的光盘或光盘基片表面,探测出其表面缺陷。利用电子技术对缺陷信号进行快速分类和统计。综合应用光学、机械、电子技术和计算机等方面技术,实现了(?)89mm～(?)130mm 光盘和光盘基片的自动测量和评价。仪器可测量光盘和基片的表面麻点、划痕、沾污、膜层针孔等缺陷,测试缺陷尺寸范围为0.3～180μm,测定平均缺陷密度值D_u,范围为10^(-2)～10^(-7),重复统计测量误差小于10%。
李锡善吴忠俊甘柏辉孙晶矾
关键词：自动测试仪
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共1页<1>
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