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冯国光

作品数:20 被引量:5H指数:1
供职机构:中国科学院物理研究所更多>>
相关领域:一般工业技术电子电信电气工程金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 12篇会议论文
  • 7篇期刊文章

领域

  • 9篇一般工业技术
  • 6篇电子电信
  • 5篇金属学及工艺
  • 5篇电气工程
  • 2篇理学
  • 1篇天文地球

主题

  • 4篇超导
  • 3篇孪晶
  • 3篇晶格
  • 3篇晶体
  • 3篇急冷
  • 3篇TEM研究
  • 3篇HREM
  • 3篇超晶格
  • 2篇电子显微学
  • 2篇钉扎
  • 2篇准晶
  • 2篇小颗粒
  • 2篇晶界
  • 2篇反相畴
  • 2篇反相畴界
  • 2篇C60
  • 2篇CA
  • 2篇CU
  • 2篇MN
  • 2篇超导相

机构

  • 19篇中国科学院
  • 1篇复旦大学
  • 1篇北京钢铁学院

作者

  • 19篇冯国光
  • 7篇周玉清
  • 6篇杨翠英
  • 2篇李林
  • 2篇魏晓莉
  • 2篇赵纬
  • 2篇郭可信
  • 2篇杨文煌
  • 2篇王瑞兰
  • 2篇李宏成
  • 2篇王宁
  • 2篇王长安
  • 1篇周均铭
  • 1篇王玉田
  • 1篇吴星
  • 1篇黄琦
  • 1篇游建强
  • 1篇段晓峰
  • 1篇盛篪
  • 1篇张道范

传媒

  • 5篇电子显微学报
  • 2篇第六次全国电...
  • 2篇第七次全国电...
  • 1篇Journa...
  • 1篇物理学报
  • 1篇第三次中国电...
  • 1篇第四次全国电...

年份

  • 6篇1993
  • 1篇1992
  • 4篇1990
  • 1篇1989
  • 3篇1988
  • 1篇1986
  • 3篇1983
20 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
LaAlO_3晶体的电子显微学研究
1990年
LaAlO_3晶体作为良好的超导膜基底受到人们的重视。在此主要报导LaAlO_3晶体的结构特点。在Philips EM420,EM430上观察了LaAlO_3晶体。在130℃、24小时退火后的晶体呈综色。LaAlO_3晶体是铁弹体,电镜中观察到的铁弹畴如图1所示。取单畴做会聚束电子衍射(CBED),得到[001]方向的带轴图如图2a所示,其中给出4mm对称性,同时测得a=b=c=0.753nm;[111]带轴图如图2b所示,其中显示3m对称。由此得出点群m3m。进而对样品在电镜中进行原位加热,当温度升至400℃左右时。
杨翠英黄照荣周玉清杨文煌冯国光
关键词:超导膜晶体电子显微学
结合CBED和HREM在材料科学中的应用
结合CBED和HREM是测定材料结构的有效方法。我们用此方法在philips EM—400T电镜中研究了包括SiC和LiO·14NbO(LN)等密排层结构材料和复杂氧化物的结构。SiC是一典型的密排层结构材料。密排层堆垛...
杨翠英周玉清冯国光
文献传递
C取向GdBa2Cu3O7-x膜中a、b取向小颗粒钉扎的TEM研究
C取向YBaCuO超导薄膜中已获得了高临界电流密度Jc=10A/cm。随着薄膜的应用,磁通钉扎的机理越来越为人们所重视。外加磁场在平行于YBaCuO的a—b平面时,a—b面会产生本征钉扎,形成高密度的临界电流密度,但垂直...
周维列周玉清王长安冯国光王瑞兰李宏成李林
文献传递
急冷Al-Fe合金中Al13Fe4相及其十次孪晶
利用philips EM-420电镜,我们研究了成分为Al—14—22at%Fe的急冷合金,发现十次准晶相、二十面体相和十次孪晶共存,其中孪晶被证实为AlFe,通常也被称为是AlFe或θ相。AlFe结构早已由Black等...
邹晓冬冯国光
文献传递
C取向GdBa_2Cu_3O_(7-x)膜中a、b取向小颗粒钉扎的TEM研究
1993年
C取向YBa2Cu3O7-x超导薄膜中已获得了高临界电流密度Jc=106A/cm2。随着薄膜的应用,磁通钉扎的机理越来越为人们所重视。外加磁场在平行于YBa2Cu3O7-x的a—b平面时,a—b面会产生本征钉扎,形成高密度的临界电流密度,但垂直于基片方向的高密度电流在应用中也是需要的。
周维列周玉清王长安冯国光王瑞兰李宏成李林
关键词:超导体钉扎TEM
Ge_xSi_(1-x)/Si应变层超晶格X-射线双晶衍射的运动学研究被引量:5
1992年
本文利用X射线双晶衍射对应变层超晶格进行了研究.我们从超晶格的台阶模型出发,运用运动学理论,推导出了X射线衍射强度的表达式,清楚地揭示了合金成分x,应变,层厚比与迴摆曲线强度分布的关系.对Ge_xSi_(1-x)/Si超晶格双晶X射线衍射强度的模拟结果与实验结果符合很好.
段晓峰冯国光王玉田褚一鸣刘学锋盛篪周国良
关键词:GESI/SI超晶格双晶衍射运动学
GaAs/Si外延层的TEM研究
<正> 外延生长半导体材料中的微缺陷对其性能及应用有着关键性的影响,为此微观缺陷的研究的必要性就显得更突出了。而透射电子显微学恰是进行微缺陷研究的重要手段。本工作就Si衬底上外延生长Ga As开展研究。实验样品有两类:(...
邹进都安彦冯国光丁爱菊侯宏启黄琦周均铭
应变和成份调制超晶格的CBED研究
1993年
由A晶格和B晶格超薄层构成一维周期性结构称为超晶格。根据超晶格中应变量的大小可对超晶格进行分类,当应变量很小,各层的原子散射振幅相差甚远时,则为成份调制的超晶格,如AlAs/GaAs超晶格:若应变量显著,而各层的原子散射振幅相差不大时,则为也变调制的超晶恪,如In_xGa_(1-x)As/GaAs超晶格。最近我们用会聚束电子衍射(CBED)研究了成份调制的超晶格AlAs/GaAs和应变调制的超晶格In、Ga_(1-x)As/GaAs的运动学和动力学衍射效应。
魏晓莉冯国光
关键词:半导体砷化镓砷化铝超晶格
LaAlO3晶体的电子显微学研究
LaAlO
杨翠英黄照荣周玉清杨文煌冯国光
文献传递
应变和成份调制超晶格的CBED研究
由A晶格和B晶格超薄层构成一维周期性结构称为超晶格。根据超晶格中应变量的大小可对超晶格进行分类,当应变量很小,各层的原子散射振幅相差甚远时,则为成份调制的超晶格,如AlAs/GaAs超晶格:若应变量显著,而各层的原子散射...
魏晓莉冯国光
文献传递
共2页<12>
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