乔彦斌
- 作品数：4 被引量：8H指数：2
- 供职机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
- 发文基金：北京市自然科学基金广东省战略性新兴产业专项国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：理学电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 电流拥挤效应与LED器件可靠性分析被引量：6
- 2013年
- 对小功率GaN基白光LED的电流拥挤效应进行了研究,发现串联灯组(8只为一组)在经过22 V电压冲击后出现漏电失效现象。通过Pspice软件对串联LED灯组进行模拟,发现与其他样品相比,受损样品承受了更大的电压和功率;对器件加-2 V偏压,利用光发射(EMMI)显微镜对芯片表面不同量级漏电流进行定位分析比较,结果表明漏电流集中在p型扩展电极端点附近。分析认为,电压冲击的破坏路径穿过了LED的量子阱结构,而电流的不均匀分布造成了p型扩展电极附近的电流拥挤,加剧了pn结的损伤程度,提高电流扩展的均匀性可以有效提高LED的可靠性。最后还对在正向电流-电压区域出现微分负阻特性的器件进行了失效分析。
- 吴艳艳冯士维乔彦斌魏光华张建伟
- 关键词：光学器件发光二极管可靠性
- 一种利用真空环境测量电子元器件工作结温和热阻的方法
- 一种利用真空环境测量电子元器件工作结温和热阻的方法涉及电子器件测量领域。本发明将被测器件置于一真空系统中，真空系统外部装置相连；外部装置包括A/D采集板、计算机、电源、和加热电源；在靠近被测器件的热源部分即有源区处放置一...
- 冯士维张光沉乔彦斌郭春生丁凯凯
- 一种利用真空环境测量电子元器件工作结温和热阻的方法
- 一种利用真空环境测量电子元器件工作结温和热阻的方法涉及电子器件测量领域。本发明将被测器件置于一真空系统中，真空系统外部装置相连；外部装置包括A/D采集板、计算机、电源、和加热电源；在靠近被测器件的热源部分即有源区处放置一...
- 冯士维张光沉乔彦斌郭春生丁凯凯
- 文献传递
- 多发光区大功率激光器的热特性分析(英文)被引量：2
- 2012年
- 通过电学温敏参数法测得多发光区大功率激光器瞬态加热响应曲线,利用结构函数法给出了多发光区激光器热阻构成,分析了多发光区激光器热特性。通过串并联热阻网络模型刻画了单发光区、两发光区、四发光区激光器的热阻构成,给出了激光器芯片热阻与发光区个数之间的定量关系。实验结果表明,不同发光区激光器的芯片级热阻随着发光区数量的增加成比例减小,而封装级热阻不变,这对激光器热设计提供了重要的参考准则。
- 李静婉冯士维张光沉熊聪乔彦斌郭春生
- 关键词：激光器热阻结构函数
