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  • 1篇二次离子质谱...
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机构

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作者

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  • 1篇张小枝
  • 1篇谈树苹
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传媒

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  • 1篇原子能科学技...
  • 1篇核化学与放射...
  • 1篇第八届全国固...

年份

  • 1篇2010
  • 3篇2006
  • 2篇2005
  • 3篇2004
  • 1篇2003
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
微粒定位技术研究被引量:3
2006年
在直径25 mm的石墨垫上镀膜或粘贴制作微定位标记,进行SEM-SEM、SIMS-SIMS、SEM-SIMS之间的微粒定位。SEM-SEM之间的微粒定位偏差约为10μm,而SEM-SIMS和SIMS-SIMS之间的微粒定位精度偏差约为15μm。实验表明:粘贴制作微定位标记和矩阵定位算法的组合是一种简便、适应性强、成本低和有效的微粒定位和再定位方法。
刘国荣李井怀李静郭士伦王林博李安利
关键词:微粒扫描电镜
土壤样品的微波消解及其痕量铀的分析被引量:13
2003年
对3个土壤样和2个放射性河床沉积物的国家标准物质进行了微波消解,又采用TOPO萃取和液体荧光法分析了样品中的铀含量,并将分析结果与国家标准方法GB11220 2—89的分析结果进行了比较。结果表明,微波消解法与国家标准方法一样,均不能实现土壤的全部消解,但与国家标准方法相比较,微波消解速度快,所需试剂量少,且易于实现定量控制,铀回收率高,分析精度高。对不溶物进行X射线能谱分析发现,其主要组成为铝、钛及过渡金属的氟化物或氧化物。同位素质谱分析表明,国家标准物质GBW08304中的234U,235U均比天然丰度低,另一个国家标准物质GBW08304a中铀的同位素分布与天然组成基本一致。
张继龙王林博张小枝何周国谈树苹
关键词:放射性物质土壤微波消解痕量分析同位素丰度
核孔膜在含铀气溶胶微粒微观定位中的应用
2005年
在核诊断和核保障技术环境样品分析中,对含铀气溶胶微粒(极少的微米级粒子)进行元素和同位素分析是十分重要的。扫描电镜(SEM)和二次离子质谱仪(SIMS)的联用是公认的微粒同位素分析技术路线之一,它需要用扫描电镜对样品垫上感兴趣的微粒进行快速查找和准确定位,最终用SIMS对同一微粒进行再定位和同位素分析。本文报导在直径为25mm的石墨垫片上利用核孔膜作参考标记并进行SEM-SEM微粒精确定位的试验方法和结果。研究表明,用核孔膜作定位标记,平均定位偏离为(5.8±2.6)μm,其精确度不亚于国外采用的其它方法。
沈彦赵永刚郭士伦李井怀刘国荣李静王林博王同兴
二次离子质谱法分析聚变裂变混合堆材料表面涂层成份
聚变裂变混合堆设计方案中,拟采用液态Pb-17Li作为冷却剂兼产氚剂。含氚液态金属有很强的腐蚀性和渗透性,因而钢冷却管道内壁应有防渗屏障层。用表面渗铝氧化方法形成微米厚度的AlO/FeAl涂层,是有应用前景的防渗屏障层生...
武昌平李静王林博赵永刚李金英李安利
关键词:ALUMINA
文献传递
核孔膜在含铀气溶胶微粒微观定位中的应用
通过大气扩散和传输的气溶胶微粒带有气溶胶来源处化学和同位素组成的信息。在核环境科学研究中,用扫描电子显微镜(SEM)查找核生产设备泄漏的含铀气溶胶微粒,测量其几何参数,并用微电子探针(EMP)测量化学成分和价态,用二次离...
沈彦赵永刚刘国荣李井怀李静王林博王同兴郭士伦
文献传递
二次离子质谱法分析聚变裂变混合堆材料表面涂层成份
2004年
An analytical technique used of secondary ion mass spectrometry (SIMS) for depth profile of aluminized coatings was developed. Analyzed components in the alumina coaling are Al,Fe,O, especially alumina. These samples with many elements and complex structure produced strong matrix effects, especially for negative metallic ions.
武昌平李静王林博赵永刚李金英李安利
核保障的微粒分析与二次离子质谱仪被引量:11
2006年
环境监测是加强核保障体系的重要监测手段,微粒分析是环境监测中最重要的分析技术之一。与整体分析相比,微粒分析能获得更多信息,因而已发展成为核保障环境监测中的常规分析方法。动态型二次离子质谱仪(SIMS)是进行微粒同位素分析最适用的测量仪器之一。在用SIMS分析各种性质的环境样品和擦拭样品时,样品制备是关键性的技术。
李安利赵永刚李静王林博
关键词:核保障二次离子质谱仪(SIMS)
铀钚微粒的寻找、定位和转移
环境取样是国际原子能机构(IAEA)加强核保障系统中的一项重要核查手段,其通过对核设施内部和外部进行环境取样,分析样品中痕量铀钚同位素指纹信息来探测未申报核活动或核材料。譬如:天然铀中235U的丰度一般在0.7%左右,如...
刘国荣李井怀李静王林博李安利
微粒分析的定位标记制作方法
本发明涉及一种微粒分析的定位标记制作方法,该制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅(1)沿倒扣在石墨样品垫(3)上的定位模具(4)的内径粘贴在石墨样品垫(3)上,再用挤压模具(2)固定定位网栅(1)。用此方法制作出的定位标记...
刘国荣李井怀李静赵永刚李安利王林博郭士伦
文献传递
微粒分析的定位标记制作方法
本发明涉及一种微粒分析的定位标记制作方法,该制作方法是把涂有导电银胶的定位网栅(1)沿倒扣在石墨样品垫(3)上的定位模具(4)的内径粘贴在石墨样品垫(3)上,再用挤压模具(2)固定定位网栅(1)。用此方法制作出的定位标记...
刘国荣李井怀李静赵永刚李安利王林博郭士伦
文献传递
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