张铜
- 作品数：3 被引量：7H指数：2
- 供职机构：中国人民解放军海军航空工程学院更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 基于BIS T的FPG A测试方法研究
- 张铜
- 文献传递
- 基于MARCH算法的SRAM内建自测试设计被引量：3
- 2013年
- 随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要,但是测试是FPGA设计中费用最高、难度最大的一个环节。由于片上系统的快速发展,ATE的速度及其存储量已经不能满足测试的要求,因此出现了内建自测试技术。本研究的主要目的是实现一个对32个单元、每个单元8比特大小的SRAM测试的BIST,采用的测试方法为MARCH算法。在设计中采用的是Verilog语言,用QautusⅡ9.0软件对设计进行仿真,并对仿真结果进行分析判断。
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- 关键词：内建自测试MARCH算法
- FPGA可编程逻辑模块的BIST测试方法被引量：4
- 2016年
- 提出了一种针对FPGA可编程逻辑模块的离线BIST测试方法。测试向量生成器(TPG)采用伪穷举法来生成测试向量,输出响应分析器(ORA)采用多输入特征寄存器(Multi-Input Shift Register,MISR)捕获原始输出并进行压缩。在QuatusⅡ9.0中进行了测试实现与仿真。结果表明,该方法不仅能够检测出电路中存在的故障,而且大大提高了测试效率。
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- 关键词：现场可编程门阵列内建自测试
