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林大伟

作品数:7 被引量:27H指数:3
供职机构:中国科学院光电技术研究所更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇理学
  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇真空紫外
  • 3篇光学
  • 2篇真空紫外光
  • 2篇水汽
  • 2篇污染
  • 2篇污染物
  • 2篇光学元件
  • 2篇存储方式
  • 1篇低损耗
  • 1篇增透
  • 1篇增透膜
  • 1篇折射率
  • 1篇入射
  • 1篇深紫外
  • 1篇紫外
  • 1篇紫外辐照
  • 1篇膜制备
  • 1篇角范围
  • 1篇光度
  • 1篇光度法

机构

  • 7篇中国科学院
  • 3篇中国科学院研...

作者

  • 7篇林大伟
  • 5篇李斌成
  • 4篇郭春
  • 2篇张云洞
  • 1篇孔明东
  • 1篇熊胜明
  • 1篇黄伟
  • 1篇蒲玲琳

传媒

  • 2篇光学学报
  • 2篇光电工程

年份

  • 1篇2014
  • 3篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2008
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
深紫外宽入射角范围增透膜设计与制备被引量:1
2012年
在大数值孔径深紫外光学系统中,需要使用宽入射角范围的增透膜光学元件。选择LaF3和MgF2两种镀膜材料,设计了适用于深紫外宽入射角范围的三层、五层和七层三种增透膜系。实验使用热舟蒸发在熔融石英基底上镀制了设计的薄膜,并用紫外分光光度计对其光谱性能进行了测试,得到了在宽入射角范围内具有较高透过率的深紫外增透膜元件。双面镀五层增透膜系的熔石英基片在0°?55°入射角内的剩余反射率小于2.5%,在0°?20°入射角内的透过率大于98%。
蒲玲琳林大伟李斌成
关键词:深紫外增透膜
一种用于真空紫外光学元件清洁和存放的紫外臭氧干燥柜
一种用于真空紫外光学元件清洁和存放的紫外臭氧干燥柜,包括紫外臭氧发生模块、空调模块、气体管理模块和智能单元,紫外臭氧发生模块对真空紫外光学元件的清洁处理;空调模块实现真空紫外光学元件清洁/存放过程中干燥柜内温度和湿度的控...
李斌成郭春林大伟
真空紫外波段铝反射膜制备被引量:7
2012年
为制备出在130~210nm波段具有良好光谱性能的铝反射膜,优化设计了铝反射镜中铝层和保护层氟化镁的厚度,理论确定铝层和氟化镁保护层最佳厚度分别为80nm和33nm。采用热舟蒸发工艺,在BK7基片上制备了Al反射膜样品,获得了130~210nm波长范围内反射率均大于80%的金属铝膜。研究了铝层沉积速率和紫外辐照处理对薄膜性能的影响,并考察了铝膜光谱性能的时效性。结果表明铝层沉积速率越快,制备的铝膜反射率越高;合理地存放铝膜元件,可以长时间内保持铝膜的光谱性能。适当的紫外辐照处理能进一步提高铝膜在真空紫外波段的反射率。
林大伟郭春张云洞李斌成
关键词:真空紫外紫外辐照
光度法确定LaF_3薄膜光学常数被引量:16
2011年
为了满足设计和生产多层膜系时精确确定薄膜材料光学常数的需要,建立一种基于透射率光谱包络来获取弱吸收光学薄膜光学常数的均匀模型。为消除基底背面反射对光学薄膜光谱性能测量的影响,给出一种非破坏性的薄膜光学特性校正方法,校正实测光谱数据获得光学薄膜的单面光谱,并给出确定基底光学常数的方法。研究钼舟热蒸发工艺制备的沉积在CaF2基底上的LaF3薄膜样品,并获得了刚沉积的和紫外照射处理40 min后的LaF3薄膜以及CaF2基底在160~340 nm的光学常数。结果表明,紫外照射处理可以提高LaF3薄膜的光学特性(增加折射率和降低消光系数),并降低LaF3薄膜的物理厚度。
郭春林大伟张云洞李斌成
关键词:光学常数分光光度法LAF3
低损耗中红外薄膜的研究
在高功率激光系统中,光学元件特别是光学薄膜是激光损伤最薄弱的环节,是限制激光系统向高功率发展的重要因素,是激光系统设计的重要依据和重大限制,因此,研究薄膜的损耗,不断减少薄膜的损耗,提高薄膜的损伤阈值,对研制和发展高能激...
林大伟
一种用于真空紫外光学元件清洁和存放的紫外臭氧干燥柜
一种用于真空紫外光学元件清洁和存放的紫外臭氧干燥柜,包括紫外臭氧发生模块、空调模块、气体管理模块和智能单元,紫外臭氧发生模块对真空紫外光学元件的清洁处理;空调模块实现真空紫外光学元件清洁/存放过程中干燥柜内温度和湿度的控...
李斌成郭春林大伟
文献传递
不同沉积角度对氟化镱薄膜性质的影响被引量:3
2011年
采用特定的工艺同一罩镀制三种不同基片倾斜角度下的氟化镱(YbF3)薄膜样品,分别采用原子力显微镜、红外分光光度计测量了单层膜的粗糙度、透射率,根据透射率值采用包络法计算了薄膜的折射率,并由堆积密度的计算公式计算了薄膜的堆积密度。测量及计算结果表明:随着基片倾斜角度即相应薄膜沉积角度的增加,薄膜的粗糙度变差,折射率及堆积密度变小。
林大伟黄伟熊胜明孔明东
关键词:粗糙度折射率
共1页<1>
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