目的探讨糖尿病母亲婴儿(infant of a diabetic mother,IDM)发生脑损伤的高危因素。方法 298例IDM,其中并发脑损伤125例为观察组,未并发脑损伤173例为对照组,单因素及多因素logistic回归分析IDM发生脑损伤的高危因素。结果单因素分析结果显示,胎龄<37周、体质量<2 500g、胎儿宫内窘迫、新生儿窒息、代谢性酸中毒、呼吸暂停、低氧血症、高碳酸血症、机械通气、低血糖、呼吸窘迫、休克、羊水Ⅲ度污染、巨大儿、小于胎龄儿、母亲血糖未控制等与IDM发生脑损伤有关(P<0.05);多因素logistic回归分析显示,胎龄<37周(OR=3.490,P=0.019)、体质量<2 500g(OR=3.436,P=0.027)、胎儿宫内窘迫(OR=3.347,P=0.037)、新生儿窒息(OR=3.471,P=0.021)、机械通气(OR=3.511,P=0.013)、呼吸窘迫(OR=3.157,P=0.044)、巨大儿(OR=3.262,P=0.041)、小于胎龄儿(OR=3.421,P=0.034)、母亲血糖未控制(OR=3.418,P=0.024)是IDM脑损伤发生的高危因素。结论 IDM并发脑损伤的高危因素较多,早期、积极干预可改善患儿预后。
