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王树臣

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所更多>>
相关领域:航空宇航科学技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇航空宇航科学...
  • 2篇一般工业技术

主题

  • 2篇氮化
  • 2篇温度
  • 2篇离子氮化
  • 2篇氨气
  • 2篇TC4
  • 1篇射线衍射
  • 1篇渗层
  • 1篇渗层深度
  • 1篇X射线衍射

机构

  • 2篇中国科学院长...

作者

  • 2篇王树臣
  • 2篇张云琨
  • 2篇郭劲

传媒

  • 1篇光学精密工程
  • 1篇2004第四...

年份

  • 2篇2004
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
温度对TC4离子氮化组织和性能的影响
2004年
对TC4进行以氨气为气源的离子氮化,氮化温度700℃,750℃,850℃,900℃,保温时间4小时.通过金相检验、显微硬度测定、X射线衍射结构分析,研究了离子氮化温度等参数对渗层深度、硬度和结构的影响规律.
张云琨王树臣郭劲
关键词:离子氮化温度氨气
温度对TC4离子氮化组织和性能的影响
本文对TC4进行以氨气为气源的离子氮化,氮化温度700℃,750℃,850℃,900℃,保温时间4小时.通过金相检验、显微硬度测定、X射线衍射结构分析,研究了离子氮化温度等参数对渗层深度、硬度和结构的影响规律.
张云琨王树臣郭劲
关键词:离子氮化氨气渗层深度X射线衍射
文献传递
共1页<1>
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