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戴名奎

作品数：6 被引量：47H指数：3
供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
相关领域：机械工程理学电子电信金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇机械工程
  • 2篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇衍射
  • 3篇衍射光强
  • 3篇光强
  • 3篇光学
  • 3篇光学元件
  • 3篇表面疵病
  • 2篇衍射光强分布
  • 2篇光强分布
  • 2篇疵病
  • 1篇仪器
  • 1篇脉冲
  • 1篇脉冲激光
  • 1篇口径
  • 1篇激光
  • 1篇剪切
  • 1篇剪切干涉
  • 1篇光学仪器
  • 1篇干涉法
  • 1篇干涉法测量

机构

  • 6篇中国科学院上...

作者

  • 6篇戴名奎
  • 5篇徐德衍
  • 2篇沈卫星
  • 1篇蒋玉柱

传媒

  • 2篇光学学报
  • 2篇光学仪器
  • 1篇中国激光

年份

  • 1篇1998
  • 3篇1997
  • 2篇1996
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
衍射光强取样分析法测定划痕宽度:理论部分被引量：3
1997年
在理论上分析了截面为矩形、三角形和余弦形的划痕的衍射花样的相似性，并在此基础上提出了一种测定划痕宽度的衍射光强取样分析法。本文还就消除光阑衍射光及粗糙度散射光的干扰提出了行之有效的措施。
戴名奎徐德衍
关键词：衍射光强分布
光学元件的疵病检验与研究现状(续)被引量：13
1996年
“光学零件表面疵病”曾在国家标准GB1031－68及GB1185－89中做过专门描述。研究发现，这些标准与国际上一些国家的相关标准及测试方法相差较大，而最近国际光学委员会推荐的一个不同用途光学元件的疵病指标值得注意[1]。本文在介绍了一些国外标准的基础上，侧重分类描述了当今世界上具有代表性的疵病检验方法、原理及各自的特点，旨在为我国光学界同行在应用、研究及制定相关标准时参考。文后作者提出了在光学元件的疵病检验和标准制定方面的一些粗浅看法。
戴名奎徐德衍
关键词：表面疵病光学仪器光学元件
衍射光强取样分析法测定划痕宽度:实验部分被引量：1
1998年
根据衍射光强取样分析法理论部分的测量原理设计了一套实验方案，比较了该方法与轮廓仪、显微镜对划痕实际宽度的测试结果，给出了其相对测量误差，并分析了误差的主要来源。该方法速度快，精度高，有推广和应用的价值。
戴名奎徐德衍沈卫星
关键词：衍射光强
光学元件表面疵病的客观检验研究
该文在深入分析位相型矩形划痕的衍射光强分布特点的基础上提出了衍射光强取样分析法,该方法只用对几度的张角内的划痕衍射光强进行取样,就可以较精确的测出划痕的宽度.为了把该方法推广到用于实际划痕的宽度测量,该文分析了位相型、振...
戴名奎
关键词：表面疵病衍射光强分布
超半口径补偿剪切干涉法测量脉冲激光波面半径被引量：4
1997年
针对当前对脉冲激光波面半径测量缺乏有效的测试方法，提出了集大错位与等光程于一体的四平板剪切干涉法，达到对脉冲激光波面半径的高精度测量。Ｒ值在３０～１０００ｍ的范围内，测量误差小于±５％
徐德衍戴名奎沈卫星蒋玉柱
关键词：剪切干涉
光学元件的疵病检验与研究现状被引量：36
1996年
“光学零件表面疵病”曾在国家标准GB1031－68及GB1185－89中做过专门描述。研究发现，这些标准与国际上一些国家的相关标准及测试方法相差较大，而最近国际光学委员会推荐的一个不同用途光学元件的疵病指标值得注意[1]。本文在介绍了一些国外标准的基础上，侧重分类描述了当今世界上具有代表性的疵病检验方法、原理及各自的特点，旨在为我国光学界同行在应用、研究及制定相关标准时参考。文后作者提出了在光学元件的疵病检验和标准制定方面的一些粗浅看法。
戴名奎徐德衍
关键词：表面疵病光学元件
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