您的位置： 专家智库 > >

包学诚

作品数：45 被引量：84H指数：5
供职机构：上海交通大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金上海市自然科学基金上海市科学技术发展基金更多>>
相关领域：一般工业技术机械工程轻工技术与工程电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 43篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 15篇一般工业技术
  • 13篇机械工程
  • 7篇轻工技术与工...
  • 5篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇天文地球
  • 1篇化学工程
  • 1篇动力工程及工...
  • 1篇电气工程
  • 1篇文化科学
  • 1篇艺术
  • 1篇理学

主题

  • 10篇静电复印机
  • 8篇激光
  • 7篇复印机
  • 6篇光学
  • 4篇激光器
  • 3篇仪器
  • 3篇摄影
  • 3篇数字式
  • 3篇图像
  • 3篇温度测量
  • 3篇脉冲
  • 3篇脉冲激光
  • 3篇脉冲激光器
  • 3篇结构原理
  • 3篇测量仪
  • 2篇摄影物镜
  • 2篇数码
  • 2篇数字图像
  • 2篇全息
  • 2篇微机

机构

  • 45篇上海交通大学
  • 4篇华东师范大学
  • 3篇中国科学院
  • 2篇上海理工大学
  • 2篇中国科学院上...
  • 1篇山东纺织工学...
  • 1篇上海大学
  • 1篇太平洋公司
  • 1篇上海医用诊察...

作者

  • 45篇包学诚
  • 4篇刘健
  • 4篇秦莉娟
  • 3篇张才根
  • 3篇陈雅贞
  • 2篇周志尧
  • 2篇庄松林
  • 2篇张幼文
  • 2篇李孟超
  • 1篇梁华翰
  • 1篇陈怀安
  • 1篇郑刚
  • 1篇徐维铮
  • 1篇孙卫
  • 1篇刘铁英
  • 1篇李竹君
  • 1篇郑权

传媒

  • 9篇复印
  • 8篇现代科学仪器
  • 7篇光学仪器
  • 5篇办公设备技术...
  • 4篇仪器仪表学报
  • 3篇影视技术
  • 3篇上海计量测试
  • 2篇计量学报
  • 2篇计量仪器新发...
  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇红外研究

年份

  • 3篇2002
  • 2篇2001
  • 3篇2000
  • 7篇1999
  • 5篇1998
  • 5篇1997
  • 2篇1996
  • 1篇1995
  • 2篇1994
  • 3篇1993
  • 2篇1992
  • 3篇1990
  • 3篇1989
  • 2篇1986
  • 1篇1984
  • 1篇1982
共 45 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
浅谈我国模压全息产业发展现状和有关建议被引量：2
1994年
从模压全息图生产过程出发，简要地论述了我国模压全息产业的发展现状和仪器设备配置问题，并提出有益的建议。
包学诚梁华翰
关键词：模压全息技术
施乐彩色复印机的发展
1998年
本文简述施乐彩色复印机的发展，并具体阐述施乐Ａ９３５型彩色复印机的主要特点。
包学诚孙卫
关键词：彩色复印机复印机静电复印
激光波长的标定——浅谈波长计的结构原理与应用被引量：3
1998年
激光器输出波长的检定通常可以采用单色仪,但是为了提高标定精度,大多利用基于干涉原理的波长测量方法。本文简要阐述这种波长的结构原理及其应用。
包学诚秦莉娟周志尧
关键词：激光波长激光器波长计
鱼眼物镜的结构原理
1998年
包学诚
关键词：结构原理摄影物镜
用程差衍射器件实现激光干涉无导轨测距
1998年
提出在以半导体激光器为光源的迈克尔逊干涉系统的一臂中，插入一 栅距具特定分布的衍射光栅，使干涉场中各点的光程与待测合作目标的光程成 对应相等的关系，进而可使目标的距离相应地反映于干涉平面上，实现绝对测距 的目的。
李孟超刘铁英庄松林包学诚
关键词：测距激光干涉
数字式静电复印机的图像处理系统
1999年
本文简要阐述数字式静电复印机图像处理系统的基本结构，以及多种图像处理功能的基本原理。
包学诚
关键词：数字式静电复印机图像处理系统
半导体激光干涉仪在信号倍频处理中的应用被引量：3
2000年
半导体异质结激光器在注入的电流发生变化时 ,输出激光的光频也随之改变。适当地设计干涉仪的参数 ,可检测这种变化。提出了可将干涉仪设计为信号倍频器及调制器 。
李孟超郑刚庄松林包学诚
关键词：半导体激光干涉仪信号处理倍频器
彩色静电复印机的光学设计
1992年
简述彩色静电复印机的成色原理和光学系统设计理论。
包学诚徐维铮龚敏
关键词：彩色复印静电复印机光学
新型计量仪器运动导轨的性能分析
包学诚陈雅贞李竹君
关键词：灵敏度性能分析导轨(机械)测量仪器
非接触式表面微观形貌光学测量技术的进展被引量：7
1999年
本文简述非接触表面微观形貌测量技术的发展概况，并对几种新型干涉测量仪器的工作原理和结构作了简单介绍。
包学诚周志尧
关键词：表面形貌光学测量双焦干涉
全选 清除 导出
共5页<12345>
聚类工具0