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杨丽侠

作品数:5 被引量:3H指数:2
供职机构:西安电子科技大学技术物理学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金西安应用材料创新基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇肖特基
  • 2篇肖特基二极管
  • 2篇二极管
  • 1篇射线
  • 1篇界面态
  • 1篇Γ射线
  • 1篇Γ射线辐照
  • 1篇^60CO
  • 1篇CO

机构

  • 2篇西安电子科技...

作者

  • 2篇杨丽侠
  • 1篇张莹
  • 1篇包军林
  • 1篇何亮
  • 1篇陈晓东
  • 1篇赵志刚
  • 1篇庄奕琪
  • 1篇李群伟
  • 1篇杜磊

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 2篇2008
5 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
肖特基二极管抗辐照能力表征技术研究
为了满足航天电子系统对SBD抗辐照能力进行评估的要求,本论文课题通过理论研究和60Co r射线辐照实验数据分析,研究了器件辐照损伤效应及其抗辐照能力的表征方法。文中设计了SBD器件印Co丫射线辐照实验,测试器件电特性和1...
杨丽侠
关键词:肖特基二极管
文献传递
^(60)Co γ射线辐照对肖特基二极管1/f噪声的影响
2008年
在肖特基二极管(Schottky barrier diode,SBD)辐照损伤机理和总剂量效应分析的基础上,利用1/f噪声的迁移率涨落和载流子数涨落模型,深入研究辐照损伤对器件1/f噪声的影响.研究结果表明,辐照诱生新的界面态,改变界面态密度分布,进而调制了肖特基势垒高度,增大表面复合速度是引起器件性能退化主要原因,也是1/f噪声剧烈增加的主要原因.正因为如此,噪声与器件退化存在相关性,即噪声拟合参数B越大,偏离标准值越多,器件可靠性越差,抗辐照能力越低,在辐照环境下工作越容易失效.由此可知,1/f噪声特性可以用作SBD辐照损伤机理的研究工具,并有可能用于SBD抗辐射加固的无损评估.
杨丽侠杜磊包军林庄奕琪陈晓东李群伟张莹赵志刚何亮
关键词:肖特基二极管^60COΓ射线界面态
共1页<1>
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