北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
- 作品数：25 被引量：8H指数：2
- 相关作者：吉国凡刘炜张琳石志刚金兰更多>>
- 相关机构：中华人民共和国工业和信息化部北京自动测试技术研究所中国电子技术标准化研究所更多>>
- 发文基金：北京市优秀人才培养资助更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 基于Multi-Site并行测试的效率分析与研究被引量：1
- 2011年
- 在晶圆芯片测试时,提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果。在采用Multi-site方式的并行测试中,需要先解决选择何种产品进行并行测试,如何确定并行site数等问题,然后再用最高效率的方法设计确定Multi-site并行测试方案。从软件和硬件方面,分析当前流行的Multi-site并行测试的效率,研究了影响Multi-site并行测试效率的各种因素,并对其影响深度和范围进行分析,给出相应的对策和提高效率的解决方法,同时还提出了溢出die计算方法,通过选择适当的site数,减少无用touchdown次数,提高测试效率。
- 金兰刘炜吉国凡
- 关键词：探针卡晶圆管芯
- IC工程测试和生产测试
- IC工程测试和生产测试直接涉及IC设计、生产产品的性能、指标、应用和价格,并最后直接面对市场和效益的考验和取向。专题发言对IC产业化测试进行了较为完整和系统的阐述,特别介绍和分析了IC产业化测试和验证的几个重要流程。IC...
- 时万春吉国凡陈大为刘鸿琴刘学森孙加兴
- 文献传递
- 面向集成电路测试的测试数据转换方法
- 本发明公开了一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对J750系列测试机实施，包括如下步骤：(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；(2)根据原始数据文件中的...
- 刘炜郑忠林吉国凡张琳王慧金兰孙博石志刚赵智昊陈希孙杨
- 文献传递
- 用于自动测试设备的有效性校准方法
- 本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法，包括如下步骤：(1)启动自动测试设备，执行自检程序；(2)自检完毕之后，由外部测量设备连接测试用适配板的测量点，开始校准工作；(3)执行通道特性参数测量；(4)执行管脚参...
- 张琳吉国凡石志刚刘炜王慧金兰宋奕霖
- 文献传递
- 一种对FPGA器件进行测试的方法
- 本发明公开了一种对FPGA器件进行测试的方法，包括如下的步骤：(1)生成为FPGA器件配置预定功能的配置文件；(2)使FPGA器件进入配置阶段；(3)从配置文件中提取配置信息并进行数据转换，得到预定管脚的配置数据信号；(...
- 吉国凡张琳刘炜赵智昊王慧石志刚孙博金兰李尔孙杨陈希
- 文献传递
- 一种自动下载集成电路序列号码的方法
- 本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法，包括如下的步骤：(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息；(2)按照预定的编码方式，将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
- 刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
- 文献传递
- 集成电路并行测试适配器设计技术
- 2007年
- 重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。
- 侯政嘉刘炜石志刚吉国凡
- 关键词：PCB板设计
- 一种自动下载集成电路序列号码的方法
- 本发明公开了一种自动下载集成电路序列号码的方法，包括如下的步骤：(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个芯片与集成电路序列号码有关的信息；(2)按照预定的编码方式，将与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序...
- 刘炜肖钢吉国凡张琳柳炯赵伟王慧石志刚孙博金兰赵智昊李尔孙杨
- 文献传递
- 基于晶圆MULTI-SITE并行测试的效率分析与研究
- 在晶圆芯片测试时，提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果．在采用MULTI-SITE方式的并行测试中，需要先解决选择何种产品进行并行测试，如何确定并行SITE数等问题，然后再用最高效率的方法设计确定MULTI-...
- 文献传递网络资源链接
- SOC芯片中高速ADC的测试方法被引量：2
- 2007年
- 本文简单描述了SOC芯片测试技术,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
- 刘炜张琳石志刚
- 关键词：片上系统模数转换器
