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爱德万测试(新加坡)私人有限公司
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40
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相关机构:
高通股份有限公司
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相关领域:
电子电信
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电子电信
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机构
40篇
爱德万测试(...
1篇
高通股份有限...
年份
7篇
2015
7篇
2014
21篇
2013
5篇
2012
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在半导体测试环境中使用虚拟仪器的系统、方法和设备
在一个实施例中,一种半导体测试控制系统包括:具有多个硬件资源的计算机系统;安装在计算机系统上的监管器;以及安装在计算机系统上的测试台控制器。监管器对硬件资源进行虚拟化并且向至少一个虚拟仪器中的每一个提供对硬件资源的相应虚...
克劳斯-迪特尔·稀里格斯
林甲威
杜恩坎·果尔蕾
晓闵·吉米·金
埃里克·H·沃克里克
文献传递
用于RF频率/功率测量的ATE数字通道
本发明公开了使用自动测试设备(ATE)进行测试的方法和用于RF频率/功率测量的ATE数字通道。所述方法包括使用自动测试设备上的数字端口来采集射频(RF)信号,其中要由所述自动测试设备测试的所述RF信号是从被测设备(DUT...
张卫民
用于分析扫描链和确定扫描链中的保持时间故障的数目或位置的方法
将扫描链的环境变量设定为被认为将导致保持时间故障的值,并且使一式样移经扫描链。该式样具有至少n个连续的第一逻辑状态的比特的背景式样及其后的至少一个第二逻辑状态的比特,其中n是扫描链的长度。按照以下两项之间的差异来确定扫描...
斯蒂芬·A·坎农
理查德·C·道肯
阿尔佛雷德·L·克洛彻
加里·A·韦伯兰德
文献传递
用于信号转换器的源同步测试的装置和方法
本发明公开了在自动测试器(40)中,包括第一信号转换器(41),用于利用转换时钟信号(CLK)将信号从数字信号域转换到模拟信号域以获得模拟激励信号(STIM);第一信号路径(42),用于将模拟激励信号(STIM)从第一信...
伯恩德·拉奎
文献传递
用于启用并行测试的计算装置
本发明描述一种用于启用并行测试的方法。所述方法包括在计算装置上产生多个测试对象。所述多个测试对象是使用基于基本测试类的衍生类来产生且所述多个测试对象中的每一者对应于被测装置DUT中的单独块。所述方法还包括将所述多个测试对...
古斯塔沃·哈维尔·里韦拉·特雷维尼奥
迈克尔·G·巴克
凯利·琼斯
文献传递
用于全速、并行DUT测试的解决方案
一种用于自动测试设备的系统。在一种实施例中,该系统包括被编程为提供测试图形以及通往至少一个被测器件(DUT)的接口的可配置集成电路(IC)。该系统还包括通往所述至少一个DUT的连接,其中所述连接被直接耦合在所述可配置IC...
W·斯科特·维拉瑞尔·费勒尔
艾哈迈德·S·坦塔维
埃里克·H·沃克里克
文献传递
用于测试待测装置的方法及设备
本发明公开了一种测试待测装置(130)的概念,该概念包括:从至少一个测试通道集成电路(240-n)接收描述至少一个硬件资源(150)的期望操作的至少一个逻辑控制命令(U-CTRL-n),所述至少一个测试通道集成电路被专用...
吉尔·戈洛夫
托马斯·亨克
罗纳德·拉森
尤瑞驰·那克
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用于对重复信号进行处理的信号处理装置及方法
本发明涉及对重复信号欠采样来测量重构模拟波形的转变时间。一种用于对重复信号(102)进行处理的信号处理装置(100),该信号处理装置(100)包括:确定单元(103),用于确定对重复信号(102)进行欠采样的多个时间点;...
约亨·里瓦尔
晋雷·刘
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芯片测试器、测试夹具套装、用于芯片测试的装置和方法
一种用于测试被连接到芯片测试器的至少两个待测试器件的芯片测试器,包括:定时计算器,用于生成用于芯片测试器的通道的定时信息。该定时计算器适用于获得传输延迟差信息,该信息描述一方面从芯片测试器的第一通道端口到第一待测试器件的...
迈克尔·道博
阿尔夫·克莱门特
伯恩德·拉奎
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用于测试多个被测器件的装置和方法
本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置(10)和方法,其中装置包括:公用器件输出线(5);驱动器单元(2),被配置为向DUT(DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN)提供激励(ST),其中驱动器单元(2)被配置...
克劳斯-皮特·贝仁斯
马克·毛斯恩格
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