江苏省“青蓝工程”基金(2010121312) 作品数:4 被引量:15 H指数:2 相关作者: 梁华国 李扬 陶志勇 易茂祥 常郝 更多>> 相关机构: 合肥工业大学 江苏商贸职业学院 合肥学院 更多>> 发文基金: 江苏省“青蓝工程”基金 国家自然科学基金 国家教育部博士点基金 更多>> 相关领域: 自动化与计算机技术 电子电信 更多>>
应用输入向量约束的门替换方法缓解电路老化 被引量:3 2013年 为缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应引起的电路老化,提高电路可靠性,提出一种在电路待机状态下应用输入向量约束的门替换方法.运用动态和静态的NBTI模型进行感知NBTI的静态时序分析,确定潜在关键路径,考虑路径相关性的关键门算法以确定关键门,并生成能使关键门最大限度处于恢复阶段的输入向量.对输入向量无法控制的关键门采用门替换方法进行内部控制.对ISCAS标准电路的实验结果表明,电路时序余量为5%时,该方法的平均门替换率降低到9.68%,时延改善率提高到39.65%. 李扬 梁华国 陶志勇关键词:NBTI 基于折叠计算的多扫描链BIST方案 2013年 为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播;然后利用折叠计算理论对测试集进行垂直方向上的压缩,使得同一折叠种子生成的相邻测试向量仅有1位不同,且在测试过程中测试向量并行移入多扫描链.在ISCAS标准电路上的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为95.07%,平均测试应用时间为之前方案的13.35%. 梁华国 李扬 李鑫 易茂祥 王伟 常郝 李松坤关键词:内建自测试 多扫描链 选择序列的并行折叠计数器 2014年 为了减少测试应用时间并保证高测试数据压缩率,提出一种选择序列的并行折叠计数器。在分析并行折叠计算理论的基础上,通过记录表示折叠索引的组序号和组内序号生成选择状态的测试序列,避免了无用和冗余的测试序列的生成。ISCAS标准电路的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为94.48%,平均测试应用时间为类似方案的15.31%。 李扬 梁华国 蒋翠云 常郝 易茂祥 方祥圣 杨彬一种缓解NBTI效应引起电路老化的门替换方法 被引量:12 2013年 45 nm工艺下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应是限制电路的性能的首要因素。为了缓解NBTI效应引起的电路老化,提出了1个基于门替换方法的设计流程框架和门替换算法。首先利用已有的电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化,然后以门的权值作为指标来识别关键门,最后采用门替换算法对电路中的部分门进行替换。基于ISCAS85基准电路和45 nm晶体管工艺的试验结果表明,相对于已有的方法,采用文中的门替换方法,使得NBTI效应引起的电路老化程度平均被缓解了9.11%,有效地解决了控制输入向量(input vector control,IVC)方法不适用于大电路问题。 梁华国 陶志勇 李扬