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HT-7装置软X射线诊断系统及锯齿行为研究: 2008年; 利用HT-7装置上建立的多阵列软X射线诊断系统对等离子体放电中的锯齿不稳定性进行研究,发现锯齿的出现及其行为特点与等离子体电子密度Ne、电子温度Te、边界安全因子qα、壁条件等放电参数有密切关系。在低杂波电流驱动等离子体放电条件下,观察到m/n=1/1的中间模振荡出现在锯齿的上升阶段,并迅速发展、饱和、衰减,在锯齿塌陷或先兆振荡出现以前消失。分析和讨论了欧姆加热条件下和低杂波加热条件下的锯齿行为。; 段艳敏陈开云胡立群; 关键词：锯齿振荡低杂波电流驱动等离子体

EAST全超导托卡马克上硅漂移探测器软X射线能谱诊断被引量：3: 2010年; 采用性能优越的15道硅漂移探测器(SDD)阵列,在EAST全超导托卡马克上建立了1套较为完善的软X射线能谱诊断系统,用以测量等离子体在软X射线辐射能段(1～20keV)的能谱。该诊断系统的观测范围基本覆盖了整个等离子体空间,因此,可满足EAST不同放电位形下电子温度测量的要求。利用该诊断系统,可获得时间分辨达50ms、空间分辨约为7cm的电子温度剖面。通过对比发现,由该诊断系统所得到的电子温度与其它电子温度诊断系统所测量的电子温度基本一致。此外,该诊断系统还可监测在软X射线能量范围内出现的一些金属杂质的特征线辐射。; 许平林士耀胡立群张继宗段艳敏钟国强卢洪伟陈开云无; 关键词：电子温度

HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析被引量：1: 2009年; 用NaI闪烁体探测器组成的逃逸电子诊断系统和CdTe半导体探测阵列组成的快电子轫致辐射诊断系统,研究了一定等离子体密度条件下低杂波功率和等离子体电流对逃逸产生的影响以及一定低杂波功率下等离子体密度对逃逸电子产生的不同作用效果。根据实验数据计算了HT-7装置等离子体中电子逃逸的阈值电场和一定放电条件下电子逃逸的阈值能量。; 卢洪伟胡立群林士耀HT-7实验组; 关键词：低杂波电流驱动电流密度逃逸电子

相干结构Blob在HT-7托卡马克边界的传播被引量：1: 2011年; 相干结构Blob的间歇爆发清晰地反映在HT-7托卡马克边界探针的离子饱和流信号中,Blob的径向传播在近刮削层堆积出一个温度和密度的平台区,使密度和温度分布偏离了指数分布。条件平均方法提示了间歇脉冲结构空间分布的均匀性,Blob内部等离子体参数远高于背景等离子体参数,并且呈现出涡旋的形态。最后闭合磁面附近的数据显示,Blob的间歇爆发导致了边界约50%的粒子输运和能量输运。实验结果表明:相干结构在剪切层受到了扭曲,在刮削层区域沿离子的逆磁漂移方向传播。; 颜宁张炜常加峰明廷凤丁斯晔; 关键词：相干结构漂移速度去相关剪切层

HCN Laser Interferometer on the EAST Superconducting Tokamak被引量：1: 2008年; A single-channel far-infrared （FIR） laser interferometer was developed to measure the line averaged electron density on the EAST tokamak. The structure of the single-channel FIR laser interferometer is described in detail. The evolution of density sawtooth oscillation was measured by means the FIR laser interferometer, and was identified by electron cyclotron emission （ECE） signals and soft X-ray intensity. The discharges with and without sawtooth were compared with each other in the Hugill diagram.; 徐强高翔揭银先刘海庆史楠程永飞童兴德

低杂波电流驱动下HT-7超导托卡马克逃逸电子行为被引量：3: 2008年; HT-7托卡马克的逃逸电子诊断系统由CdTe，BGO，Na三种探测器组成，可以用来观测逃逸电子撞击托卡马克第一壁材料产生的硬X射线轫致辐射，它的能量响应范围是0．3～1．5MeV。结合电子回旋辐射、中子等诊断手段，研究了HT-7超导托卡马克在低杂波电流驱动下的逃逸电子行为。实验结果显示：高功率低杂波的关断和低功率低杂波的投入都会增强逃逸电子的产生，但是如果低杂波可以将等离子体环电压降低到逃逸的阈值电场以下，低杂波的投入就可以抑制电子的逃逸。逃逸电子的产生还和低杂波功率有着密切的关系，可以通过控制低杂波的投入和关断的时刻以及改变低杂波功率来抑制逃逸电子的产生。; 卢洪伟胡立群江勇林士耀; 关键词：逃逸电子硬X射线轫致辐射

全超导托卡马克装置欧姆放电逃逸电子行为研究被引量：3: 2009年; 电子发生逃逸在托卡马克等离子体中是较常见的现象,特别是在等离子体破裂阶段,会产生大量的逃逸电子。本工作利用硬X射线监测系统,并结合其它相关诊断系统研究世界上第1个运行的全超导托卡马克(EAST)装置在欧姆放电的不同阶段逃逸电子的行为。研究结果表明:在欧姆放电起始阶段,逃逸电子的初级产生过程占主导地位。随着放电的进行,逃逸电子的次级雪崩过程逐渐增长,在放电后期一直到等离子体破裂阶段,雪崩过程将占据主导地位。等离子体破裂后,因存在较高的环电压而产生了高能逃逸电子拖尾。; 卢洪伟胡立群江勇林士耀陈开云段艳敏许平; 关键词：逃逸电子硬X射线

HT-7电子加热实验的软X射线能谱诊断被引量：1: 2008年; 介绍了HT-7装置上软X射线能谱诊断系统,用软X射线能谱对HT-7托卡马克上电子温度进行了测量。在离子伯恩斯坦波和低杂波协同实验中,观察到了对等离子体的较好的加热效果。; 许平林士耀胡立群段艳敏石跃江HT-7物理实验组; 关键词：电子温度

HT-7托卡马克上软X射线诊断系统及锯齿行为研究: 本文介绍了HT-7托卡马克装置上袖珍软X射线成像系统,利用该诊断系统对等离子体放电中的锯齿不稳定性进行了研究。在HT-7托卡马克装置上,锯齿的出现及其行为特点与等离子体的电子密度Ne、电子温度Te、边界安全因子qα、壁条...; 段艳敏陈开云胡立群; 关键词：锯齿振荡低杂波电流驱动等离子体; 文献传递

HL-2A装置SDD软X射线PHA阵列实验结果被引量：2: 2010年; 用软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列系统获得了等离子体的电子温度剖面和电子速率分布的时间演化。测量结果表明,电子温度剖面在OH阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1-(r/a)2]2分布;而在ECRH(功率0.8MW)阶段,等离子体中心(z=0)电子温度上升了0.6keV,边缘(z=30cm)处只上升了0.1keV,反映出ECRH功率沉积在等离子体中心区域;在ECRH期间有大量的高能电子产生,因而电子速率分布在ECRH期间显著改变;等离子体中心的高能电子的数量和能量都比等离子体边缘的增加更大,ECRH(～0.8MW)期间等离子体中心(z=0)产生的高能电子的能量可达17keV。分析表明:在ECRH(纵场Bt=1.3T)放电期间,ECRH加热效果显著,ECRH的功率主要沉积在等离子体中心附近;电子温度剖面在ECRH阶段较OH阶段峰化;ECRH期间有大量的高能电子产生,电子速率分布被改变成为非麦克斯韦分布。; 张轶泼刘仪杨进蔚宋先瑛李旭袁国梁潘传红; 关键词：ECRH

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