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厚度测量方法、X射线分析装置、信息处理装置以及计算机程序: 本发明提供一种能够测量比以往更多的多层试样的厚度的厚度测量方法、X射线分析装置、信息处理装置以及计算机程序。在厚度测量方法中，向包括层叠的第一层以及第二层的试样以X射线按所述第一层、所述第二层的顺序透过的方式照射所述X射...; 大桥聪史宫本奖平青山朋树宫坂真太郎名仓诚广濑润松永大辅

X射线衍射数据处理装置和X射线分析装置: 峰二维检测数据提取部(211)从在多个扫描角度2θ/θ得到的衍射X射线(Xb)的二维检测数据中提取X射线强度最大的衍射X射线(Xb)的二维检测数据(峰二维检测数据)。接下来，峰位置确定部(212)根据峰二维检测数据确定X...; 小城彩小林信太郎尾芳功系兆

厚度测量方法、X射线分析装置、信息处理装置以及计算机程序: 本发明提供能够测量在现有技术中难以测量的多层试样的各层的厚度的厚度测量方法、X射线分析装置、信息处理装置以及计算机程序。在厚度测量方法中，向包含多个层的试样照射X射线，以使所述X射线透过多个所述层，检测从所述试样产生的荧...; 宫本奖平大桥聪史青山朋树广濑润

荧光X射线分析装置以及电源装置: 本发明提供一种荧光X射线分析装置以及电源装置。荧光X射线分析装置具备：X射线管球，其照射初级X射线；第一电源，其供给灯丝电流；第二电源，其施加管电压；第一二极管，其连接于电力线；齐纳二极管，其与接地端子连接；以及运算放大...; 鹈饲洋平

X射线分析装置及峰值预测程序产品: 在本发明中，无论X射线探测器的种类和前置放大器的电路结构如何，即使在高计数的X射线测量时也高速且高精度地进行X射线信号的峰值的测量。本发明具有：激发源；X射线探测器；输出模拟信号的前置放大器；将模拟信号转换为数字信号的A...; 多田勉

荧光X射线分析装置: 测定线评价机构(23)根据针对薄膜而指定的组成和/或厚度，对于已指定的全部的测定线，通过理论计算而计算出推算测定强度，以规定量改变仅仅一个测定线的推算测定强度，针对每个变化的测定线，通过基本参数法，求出推算测定强度变化后...; 山田康治郎原真也堂井真

对电子显微镜中的加热样品的改进的X射线分析: 提供一种用于在粒子束仪中对样品进行能量色散X射线分析的系统，所述系统包括X射线检测器5和滤波器构件，所述系统适于使得在第一操作模式中，滤波器构件和检测器被定位成在样品和检测器之间提供无阻挡的视线，并且在第二操作模式中，滤...; 桑托希·巴哈戴尔海赛姆·曼苏尔克里斯·泰雷尔

荧光X射线分析装置: 本发明提供一种荧光X射线分析装置。荧光X射线分析装置具备试样台、第一壳体、X射线管、检测器以及真空调整机构。试样台用于配置试样。第一壳体设置于试样台的用于配置试样的一侧的第一面，与试样台一起形成试样室。检测器检测通过将从...; 森久祐司

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置: 荧光X射线分析方法包括以下步骤：步骤(S1)，将试样配置于荧光X射线分析装置；步骤(S3)，将期望的死区时间率应用于麻痹型模型，来计算X射线管的基准管电流；步骤(S4)，基于基准管电流来决定X射线管的测定用管电流，使测定...; 铃木桂次郎八岛志保克里恩卡莫尔·坦特拉卡恩

荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置: 提供荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置，仅通过1次的X射线照射就能够测定构成试样的各层的膜厚或组成。具有：照射步骤，对有下层、中间层和上层的试样照射X射线；标准信息取得步骤，预先取得对膜厚已知的多个标准物质照射X射线...; 泉山优树

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