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- 无BSDL模型芯片引脚边界扫描测试结构
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- 一种用于边界扫描测试且有效定位短路故障的方法及系统
- 本发明公开了一种用于边界扫描测试且有效定位短路故障的方法及系统,通过方法实时获取与待边界扫描测试且待定位短路故障相对应的第一数据;其中,所述第一数据为待测连接网络的连接关系;基于所述第一数据,分别生成与待测连接网络相对应...
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- 一种边界扫描测试方法及系统
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- 边界扫描测试技术及可测试性设计研究被引量:2
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- 随着集成电路技术的不断发展,在超大规模集成电路时代,数字电路的应用越来越广泛,而其中使用的大规模数芯字片越来越多,如数字信号处理(digital signal processing,DSP)、现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)等;然而也带来了更多的测试问题。边界扫描测试技术为测试复杂、高密度电路系统提供了新的解决方案,注入了新的活力。它为数字电路提供了一套完整的、标准化的可测试性设计方法,有效解决了传统测试方法无法解决的问题,并具有广阔的应用前景。本文首先对边界扫描测试技术的发展史、测试原理进行概述,并对比边界扫描测试与传统测试区别;其次对边界扫描测试技术在可测试性设计层面的应用场景进行概述;最后提出可行性建议。
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- 一种基于FPGA的边界扫描测试方法及系统
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