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一种叠层芯片混合信号边界扫描测试结构
本发明涉及叠层芯片的边界扫描测试领域,具体涉及一种结合IEEE 1838和IEEE 1149.4标准的叠层芯片边界扫描测试结构,重点涉及对叠层芯片连接部分TSV的故障与缺陷检测。本发明在叠层芯片中通过在连接叠层芯片的硅通...
周雨宇黄新
提高边界扫描测试的脚位测试涵盖率系统及其方法
本发明公开了一种提高边界扫描测试的脚位测试涵盖率系统及其方法,边界扫描互连测试工作站分别与第一测试针板以及第二测试针板形成电性连接,边界扫描互连测试工作站自第一测试针板得到待检测测点对应的检测信号,并依据检测信号判定是否...
谢新颖段秋月张琳
一种用于主板边界扫描测试的方法、系统及CPU仿真结构
本发明公开了一种用于主板边界扫描测试的方法、系统及CPU仿真结构。通过方法将待测主板至于治具载板,并治具动作,待测主板中的第一连接器分别和第一模拟测试卡中的第二连接器、第二模拟测试卡中的第三连接器插接;通过设置的边界扫描...
梅燃燃王威程志勇孙德滔杨丹吴洪升
一种用于边界扫描测试的JTAG延时自校正处理方法及系统
本发明公开了一种用于边界扫描测试的JTAG延时自校正处理方法及系统,通过方法生成并获取与边界扫描测试系统中待JTAG延时校正处理相对应的第一数据;其中,第一数据为JTAG信号数据,包括时钟信号数据,状态信号数据,输入信号...
梅燃燃胡保民程志勇
无BSDL模型芯片引脚边界扫描测试结构
本发明公开了一种无BSDL模型芯片引脚边界扫描测试结构,包括:恒流源,其为被测试无BSDL模型芯片引脚提供第一稳定电流;ADC电压采集单元,其将恒流源电流输入被测试无BSDL模型芯片引脚,将恒流源电压将压到第一指定电压输...
周磊陈旭陆永健
一种用于边界扫描测试且有效定位短路故障的方法及系统
本发明公开了一种用于边界扫描测试且有效定位短路故障的方法及系统,通过方法实时获取与待边界扫描测试且待定位短路故障相对应的第一数据;其中,所述第一数据为待测连接网络的连接关系;基于所述第一数据,分别生成与待测连接网络相对应...
梅燃燃王威程志勇杨丹孙德滔
一种边界扫描测试方法及系统
本发明提供了一种边界扫描测试方法及系统,测试方法用于对互连的第一待测芯片和第二待测芯片的链接状况进行测试,包括步骤:构建测试脚本,由所述测试脚本下发控制指令;接收所述控制指令,根据控制指令和待测引脚依次对第一待测芯片和第...
卓彬彬沈徽祖黄旭丹
边界扫描测试技术及可测试性设计研究被引量:2
2024年
随着集成电路技术的不断发展,在超大规模集成电路时代,数字电路的应用越来越广泛,而其中使用的大规模数芯字片越来越多,如数字信号处理(digital signal processing,DSP)、现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)等;然而也带来了更多的测试问题。边界扫描测试技术为测试复杂、高密度电路系统提供了新的解决方案,注入了新的活力。它为数字电路提供了一套完整的、标准化的可测试性设计方法,有效解决了传统测试方法无法解决的问题,并具有广阔的应用前景。本文首先对边界扫描测试技术的发展史、测试原理进行概述,并对比边界扫描测试与传统测试区别;其次对边界扫描测试技术在可测试性设计层面的应用场景进行概述;最后提出可行性建议。
张永涛皇甫强龙岳佳欣
关键词:集成电路可测试性
一种基于FPGA的边界扫描测试方法及系统
本发明公开了一种基于FPGA的边界扫描测试方法及系统,涉及边界扫描测试技术领域,包括生成动态TCK信号,进行状态机的控制和转换;结合FIFO缓存策略进行DDR数据存储,对存储的数据进行自适应数据位移处理;进行不同协议之间...
黄正秋全家民李家佳万以强刘勇何栋梁
一种基于FPGA的边界扫描测试方法及系统
本发明公开了一种基于FPGA的边界扫描测试方法及系统,涉及边界扫描测试技术领域,包括生成动态TCK信号,进行状态机的控制和转换;结合FIFO缓存策略进行DDR数据存储,对存储的数据进行自适应数据位移处理;进行不同协议之间...
黄正秋全家民李家佳万以强刘勇何栋梁

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研究主题:边界扫描测试 PXI 信号 嵌入式测试 测试向量
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作品数:57被引量:0H指数:0
供职机构:华为技术有限公司
研究主题:扫描链 边界扫描测试 电路板 主控板 FLASH
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作品数:128被引量:329H指数:8
供职机构:桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
研究主题:边界扫描测试 故障诊断 测试矢量 IEEE 模拟电路故障诊断
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供职机构:桂林电子科技大学
研究主题:边界扫描测试 可测性设计 混合信号 混合信号电路 互连测试
徐鹏程
作品数:39被引量:7H指数:2
供职机构:北京航天测控技术有限公司
研究主题:边界扫描测试 嵌入式测试 嵌入式 测试向量 可测性