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高压VDMOS终端技术研究
2023年
本文针对高压VDMOS器件的终端技术进行研究。文中分析了场板、场限环、截止环、终端扩展技术以及横向变掺杂的基本设计方式和提升器件耐压的机理,并设计了一款600V高压VDMOS的复合终端构,经封测及可靠性验证,性能稳定。
单长玲习毓丁文华
关键词:场板场限环
具有无终端技术功率半导体器件及制造方法和应用
本发明提供一种具有无终端技术功率半导体器件及制造方法和应用,第一介质氧化层和浮空场板多晶硅电极构成纵向浮空场板,分布在整个第二导电类型漂移区中,形成纵向浮空等势场板阵列;漏端引入浮空场板,改善此处的曲率效应,提高耐压。...
章文通吴旸唐宁乔明李肇基张波
特大功率晶闸管终端技术对阻断电压的影响被引量:2
2022年
在此通过计算机仿真方法对影响特大功率晶闸管阻断电压的终端技术进行仿真分析,并对仿真论进行试验验证,证实了具有双负斜角构的特大功率晶闸管,其终端技术的负斜角角度和造型深度对终端空间电荷区的扩展和电场分布有重要影响,从而影响阻断电压。只有负斜角角度和造型深度都在优化值时,才能获得兼具高可靠性和高稳定性的晶闸管最高阻断电压。
陈黄鹂王红梅程炯张刚琦
关键词:结终端技术阻断电压
具有无终端技术功率半导体器件及制造方法和应用
本发明提供一种具有无终端技术功率半导体器件及制造方法和应用,第一介质氧化层和浮空场板多晶硅电极构成纵向浮空场板,分布在整个第二导电类型漂移区中,形成纵向浮空等势场板阵列;漏端引入浮空场板,改善此处的曲率效应,提高耐压。...
章文通吴旸唐宁乔明李肇基张波
氧化镓高功率肖特基二极管的制备及终端技术研究
氧化镓(Ga2O3)作为近些年来迅速发展起来的半导体材料之一,相比于传统半导体材料Ge、Si,以及同为第三代半导体材料的SiC和GaN相比,凭借其更大的禁带宽度、更高的临界击穿场强,在高压、大功率领域具有广阔的应用前景。...
李昂
关键词:氧化镓结终端技术
IGBT领域终端技术申请人的专利分析被引量:2
2018年
终端技术对于IGBT等高压功率半导体器件有着重要意义,本文主要从该领域的申请人以及重要申请人的技术入手,分析该领域的专利申请状况,并对一些重要技术进行了分析。
周天微
关键词:结终端申请人
VDMOS终端技术对比研究被引量:2
2016年
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应管(VDMOS)器件的反向耐压能力主要取决于器件构中的特定pn反偏击穿电压,由于pn特性,击穿通常发生在终端。随着终端技术的发展,功率VDMOS器件的击穿特性有了很大的提升。主要介绍了几种目前常用的终端技术构及工作原理,包括场限环技术、p+偏移技术、横向变掺杂技术终端扩展技术和RESURF技术。重点探讨了每种方法的优缺点,并指出几种终端技术不同的设计难度、工艺控制和实现要点等。同时固定元胞设计,采用不同的终端技术试制了600 V VDMOS产品,对比了采用不同终端技术制作芯片的工艺制造以及成本,可为实际的制造生产提供理论指导。
赵圣哲李理赵文魁
关键词:结终端
一种带埋层的新型终端技术被引量:1
2016年
在高压功率器件领域,常规的场限环技术由于环的个数较多,占用芯片面积较大,导致终端的效率很低。为了改善这一缺点,提出了一种带P–埋层的新型高压终端技术,有效降低了主边缘处的电场集中,提高了击穿电压。仿真果表明,该构的击穿电压达到3 439 V,终端的长度为1 000μm,较常规的场限环构1 500μm(英飞凌公司3 300 V产品)节省了近30%的终端面积。
周嵘张玉蒙李泽宏熊景枝张金平
关键词:电场击穿电压终端技术场限环
高压功率器件终端技术分析与新构研究
高压功率器件是电力电子技术的基础与核心,其具有高耐压、导通电流密度大的特点,提高功率器件的耐压能力是器件设计中最重要的任务之一。而终端的设计对高压功率器件的性能影响很大,因此,本文主要对终端进行研究并得出了一些相关...
孔晓李
关键词:高压功率器件结终端击穿电压模拟仿真
4H-SiCBJT功率器件特性及终端技术研究
碳化硅(SiC)材料以其具有宽禁带、高热导率、高临界击穿电场、高饱和电子迁移速度等优良特性,在大功率器件领域扮演着越来越重要的角色,在电力电子系统中拥有巨大的发展潜力和广阔的应用前景。同时4H-SiC BJT由于很好地弥...
毕胜赢
关键词:结终端技术击穿特性
文献传递

相关作者

张波
作品数:4,965被引量:7,038H指数:42
供职机构:电子科技大学
研究主题:功率半导体器件 半导体功率器件 电能传输系统 无线 导电类型
张发生
作品数:13被引量:24H指数:3
供职机构:中南林业科技大学计算机与信息工程学院
研究主题:4H-SIC 4H-SIC肖特基势垒二极管 肖特基势垒二极管 肖特基二极管 碳化硅
唐本奇
作品数:83被引量:182H指数:8
供职机构:西北核技术研究所
研究主题:CCD 电荷耦合器件 中子 功率MOS器件 中子辐照
李肇基
作品数:359被引量:624H指数:13
供职机构:电子科技大学
研究主题:击穿电压 功率器件 导电类型 SOI 功率半导体器件
乔明
作品数:623被引量:131H指数:7
供职机构:电子科技大学
研究主题:导电类型 功率半导体器件 半导体功率器件 比导通电阻 击穿电压