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电子显微
管汀鹭编
关键词:电子显微术
改进的透射电子显微
具有样品平面的扫描透射电子显微镜STEM,该STEM包括初级电子束源,该初级电子束源被布置成向位于STEM的样品平面处的样品提供初级电子束。STEM检测器,其中样品平面位于初级电子束源与该STEM检测器之间。第一次级电子...
O·L·沙内尔P·赫拉文卡B·斯特拉卡M·昂科夫斯基
用于由电子显微或关联显微表征生物样品的造影溶液
本发明涉及一种溶液,其包含:在由水/有机溶剂混合物或有机溶剂组成的溶剂中的杂多酸和镧系元素盐。任选地,该溶液还可以包含具有包括在4‑6的区间内的pH的有机缓冲液或无机缓冲液,或强碱或强酸。本发明的目的还包括所述溶液及其组...
瓦伦蒂娜·凯佩罗乔瓦尼·西尼奥雷塞巴斯蒂亚诺·迪皮耶特罗梅丽莎·桑蒂奥尔多·莫斯卡帝尼毛罗·盖米
连续切片扫描电子显微在硅酸盐水泥单矿物水化研究中的应用
连续切片扫描电子显微镜(SBFSEM)是一种具有高分辨能力的三维成像技,其在水泥领域的应用尚属于空白,将其拓展应用到陔领域,可以弥补其他研究方法的不足。本书从样品的制备、测试条件的优化及图像处理的精度控制等角度探索性研...
杨飞
微束分析 透射电子显微 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。
伍超群于洪宇乔明胜陈文龙周鹏邱杨黄晋华汪青程鑫
微束分析 分析电子显微 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸...
娄艳芝柳得橹徐宁安
微束分析 分析电子显微 线状晶体表观生长方向的透射电子显微测定方法
本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料,也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜(TE...
纳米技 扫描电子显微测量纳米颗粒粒度及形状分布
本文件规定了通过获取和分析纳米颗粒的扫描电子显微镜(SEM)图像,从而确定纳米颗粒粒度及形状分布的方法。 注1:本文件适用的颗粒粒度测量下限取决于SEM性能和测量不确定度的要求,相关信息根据本文件描述的要求进行证明。注...
微束分析 分析电子显微 层状材料截面像中界面位置的确定方法
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS...
微束分析 分析电子显微 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
本文件规定了利用透射电子显微镜(TEM)测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度...

相关作者

朱静
作品数:297被引量:1,223H指数:18
供职机构:清华大学
研究主题:金属间化合物 纳米线阵列 吸波材料 空心车轴 NI
叶恒强
作品数:224被引量:527H指数:13
供职机构:中国科学院金属研究所
研究主题:金属间化合物 显微结构 电子显微学 NIAL AL
李斗星
作品数:151被引量:425H指数:12
供职机构:中国科学院金属研究所
研究主题:微观结构 显微结构 电脉冲 HREM TEM
马秀良
作品数:105被引量:87H指数:5
供职机构:中国科学院金属研究所
研究主题:电子显微学 透射电子显微镜 TEM研究 位错 显微结构
陈泉水
作品数:119被引量:410H指数:10
供职机构:东华理工大学化学生物与材料科学学院
研究主题:膨润土 CU-ZN-AL合金 粉石英 表面改性 一维纳米结构