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- 2024年
- 随着集成电路制造工艺的高速发展,其构造越来越复杂,测试成本也越来越高,而压缩测试数据是降低测试成本的有效方法之一。本文在双游程交替编码基础上,提出了一种相邻游程增量编码的测试数据压缩方案。先通过编码表获得当前游程编码长度N,然后得到当前游程减去前一游程的差值M,当M不为负数且比N-1小时,使用M+1个0表示当前游程。在压缩过程中,通过实时对比两种编码的长度,并选择长度小的编码以进一步压缩数据,实验证明本方案有着良好的压缩效果。
- 吴海峰邓博文
- 关键词：集成电路测试测试数据压缩
- 测试数据压缩方法、装置、设备、存储介质及程序产品
- 本申请实施例提供一种测试数据压缩方法、装置、设备、存储介质及程序产品，该测试数据压缩方法包括：对存储器的测试数据进行分割，得到多个分割区域对应的测试数据；针对所述多个分割区域中各分割区域，根据所述分割区域对应的测试数据，...
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- 一种基于元胞自动机的综合测试数据压缩方案
- 2024年
- 为降低IC测试成本,压缩测试数据量是一种非常有效的解决途径。首先依据元胞自动机产生的随机向量数组,通过穷举法寻找测试集处理的最佳变换规则,把原始测试集拆分为主分量集和残存集两部分,其中主分量集可由元胞自动机生成,随后对残存集采用VariableTail编码进行压缩。实验结果表明,所提方案与传统编码压缩方法及其优化方案相比,具有更高的平均压缩率,且对无关位较少、复杂度较高电路的压缩效果更加明显。
- 廖诗睿王志纲刘杰韩光延
- 关键词：元胞自动机测试数据压缩随机向量穷举法测试集
- 电池测试数据压缩存储方法
- 本发明公开了一种电池测试数据压缩存储方法，包括如下步骤：S1：根据存储系统设定的工步层数据、若干层记录数据的电池测试数据为需要压缩的数据段选择对应的数据压缩算法、参数进行数据压缩；S2：将压缩后的数据段和压缩算法、参数一...
- 肖映宏
- 基于相邻游程长度特征的测试数据压缩方法研究
- 从日常生活中的电子产品,到最近火热的Chat GPT,都离不开芯片的身影。在现代化产业体系中,芯片有着举足轻重的地位,芯片制造的竞争也愈发激烈。过去,片上系统(System on Chip,So C)的出现大大提高了芯片...
- 邓博文
- 关键词：测试数据压缩游程编码
- 基于间隔提取和差值编码的测试数据压缩方法研究
- 芯片是数字时代的底层支撑,它在国际竞争中越来越具有战略地位。各国政府通过资金补助、市场扶持和专利保护等措施来支持本国芯片行业的发展。随着芯片集成度不断提高,测试数据量呈指数增加,分析和处理测试数据所需的时间和成本飞速上升...
- 吴心竹
- 关键词：测试数据压缩系统芯片
- 基于SOC的测试数据压缩算法研究与分析
- SOC是通过整合不同数字/模拟逻辑块和嵌入式存储器的系统级芯片，提供了高性能、低功耗、更小的尺寸和更短的上市时间。为了确保质量，及时发现由制造缺陷引起的故障，需要对所有的片上电路元件用适当的测试向量进行测试。现代SOC集...
- 李旺康
- 关键词：SOC测试数据压缩算法适应度函数
- 混合分数与FDR码的测试数据压缩方法被引量：1
- 2022年
- 针对传统编码压缩方法不能有效压缩游程较短的测试数据问题,本文提出了一种混合分数与FDR码的测试数据压缩方法。根据游程出现的规律,将连续的游程序列转换为分数,编码分子分母和原始测试数据长度对应的整数,突破了短游程测试数据对编码压缩效果的限制,减少了需要编码的数据量;对不能转换为分数的游程直接进行FDR编码,发挥FDR码在测试数据压缩中固有的优势。混合压缩的方法使编码更加灵活,进一步减少了测试数据量,实验结果显示该方案对ISCAS89部分标准电路的平均压缩率为61.0%,压缩效果可观。
- 李瑞吴琼
- 关键词：测试数据压缩
- 自适应游程编码的测试数据压缩及解压方法
- 本发明提供了一种自适应游程编码测试数据压缩及解压方法，其对测试数据的无关位进行填充后，将较长的0游程或1游程编码为较短的码字，实现第一级压缩功能；码字具备可还原性，解压后不影响芯片测试。填充后的测试数据相邻游程长度差值为...
- 程一飞邓博文赵晓静吴海峰吴心竹
- 基于前后游程长度编码的测试数据压缩及解压方法
- 本发明提供了一种基于前后游程长度编码的测试数据压缩及解压方法，其对测试数据的无关位进行填充后，将较长的0游程或1游程编码为较短的码字，实现第一级压缩功能；码字具备可还原性，解压后不影响芯片测试。填充后的测试数据相邻游程长...
- 吴海峰邓博文王远志程一飞赵晓静吴心竹
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