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散射显微镜检查
本申请涉及散射显微镜检查。本申请的散射显微镜检查装置使用显微镜对包括表面的物体进行成像。光源发射照射光，以及光检测器检测从物体弹性散射的光。电位被施加到该表面，在进行成像时，电位影响物体的电化学特性。电位提供了一种对比度...
菲利普·库库拉萨利·法耶兹
散射显微镜检查
一种散射显微镜检查装置，该散射显微镜检查装置使用显微镜对包括表面的物体进行成像。光源发射照射光，以及光检测器检测从物体弹性散射的光。电位被施加到该表面，在进行成像时，电位影响物体的电化学特性。电位提供了一种对比度机制，该...
菲利普·库库拉萨利·法耶兹
显微镜检查关联装置
本实用新型提供一种显微镜检查关联装置，包括：电源适配器和静电报警单元；静电报警单元包括控制器；电源适配器内部设置有隔离电源模块和继电器，继电器具有常开触点；控制器接收、识别并处理防静电手环的信号；控制器检测到佩戴防静电手...
朱红光嵇杰
显微镜和显微镜检查的方法
本发明涉及一种显微镜，包括用于提供照明光的光源、用于以可变方式产生待选择的照明光的照明图案的可控操纵设备、具有用于将照明图案引导至待检验样品的显微镜透镜的照明光束路径、具有用于检查由样品发出的荧光的多个像素的检测器、用于...
丹尼尔·施韦特蒂莫·安胡特
显微镜和用于显微镜检查的方法
本发明涉及一种显微镜，其具有：照明光束路径，其具有用于照明样品的照明控制装置；检测光束路径，用于将辐射的发射光引导向相机并且具有用于控制照明控制装置和相机的控制单元，其中控制单元被设计成使相机的传感器表面的待读取区域与激...
T·安胡特D·施韦特M·瓦尔德
结构化照明显微镜检查方法及结构化照明显微镜
本发明公开了结构化照明显微镜检查方法及结构化照明显微镜。在用于确定测试表面的高度图的结构化照明显微镜检查方法中使用结构化照明显微镜。本发明还涉及一种用于确定测试表面的高度图的结构化照明显微镜。所述显微镜包括光源、空间光调...
B·G·恩廷克
用于相关联的对象的扫描显微镜检查的光学显微镜检查探头
本发明公开了一种用于对象(O)的扫描显微镜检查成像的光学显微镜检查探头(10)。所述探头具有光学窗口(22)和光导(2)，所述光导具有刚性地耦合至该光导的末端部分的物镜(6)。所述光导以能够移位的方式安装于外壳21的横向...
B·H·W·亨德里克斯W·C·J·比尔霍夫N·米哈伊洛维奇
使用带电粒子显微镜检查样品的方法
提供了一种使用带电粒子显微镜检查样品的方法。该方法包括：提供带电粒子射束并在该样品的区域上扫描该射束；响应于在该样品的该区域上扫描的该带电粒子射束而检测来自该样品的光谱发射；以及识别第一多个基本类似的光谱发射。确定与该第...
J·克卢塞克P·赫拉文卡M·瓦纳特卡O·瓦维尔卡
使用带电粒子显微镜检查样品的方法
本发明涉及一种使用带电粒子显微镜检查样品的方法，包括提供带电粒子束和样品的步骤，以及用所述带电粒子束扫描所述样品的至少一部分的步骤。第一检测器用于获得测量的检测器信号，其对应于来自多个采样位置处所述样品的第一类型的发射。...
J.克卢萨切克T.图玛
使用带电粒子显微镜检查样品的方法
本发明涉及一种使用带电粒子显微镜检查样品的方法，其包含以下步骤：提供带电粒子射束以及样品；在多个样品位置处使所述带电粒子射束在所述样品上扫描；和响应于在所述多个样品位置上扫描的所述射束，使用第一检测器检测来自所述样品的第...
J.克卢萨切克T.图玛J.彼得雷克
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蔡颖谦
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