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半导体设备
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排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
相关度排序
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
半导体
设备
与成像
设备
提供一种适合于高度集成的结构的
半导体
设备
。该
半导体
设备
具有:晶体管,具有栅极部、第一扩散层、以及第二扩散层;第一导电部;第二导电部,与第一导电部电绝缘;第一存储器元件,位于第一扩散层与第一导电部之间并且电连接至第一扩散层...
横山孝司
冈干生
神田泰夫
半导体
元件和
半导体
设备
MOS电容器的电容量增加。
半导体
元件包括第一
半导体
区域、绝缘膜、栅电极和第二
半导体
区域。第一
半导体
区域布置在
半导体
基板上,并且在表面上具有凹部。绝缘膜布置成与第一
半导体
区域的表面相邻。栅电极布置成与绝缘膜相邻,并且与第一...
冨田知大
平井友洋
冈本晋太郎
江田健太郎
渡辺敬
山口一树
笠原则一
铃木康平
光栅测温装置、
半导体
设备
及其测温方法
一种光栅测温装置、
半导体
设备
及其测温方法,光栅测温装置中的光纤提供的发射光能够传输至布拉格光栅,并经布拉格光栅反射所述发射光,产生反射光。因为布拉格光栅直接在测温点处形成,从而布拉格光栅与测温晶圆之间无任何媒介,布拉格光...
洪俊华
半导体
设备
对接方法及系统、控制模块
本申请提供了
半导体
设备
对接方法及系统、控制模块,该方法应用于控制模块,该方法包括:接收来自EAP
设备
自动化模块的第一
半导体
设备
的
设备
状态信息,以及,接收来自所述第一
半导体
设备
的传感器信号;根据所述
设备
状态信息和所述传感器...
魏洋
刘洋
半导体
设备
和
半导体
器件的制造方法
本申请实施例提供了一种
半导体
设备
和
半导体
器件的制造方法。该
半导体
设备
包括至少一个真空处理腔室和至少一个真空传输腔室,各真空处理腔室均与真空传输腔室连接;真空传输腔室用于传送晶圆。至少一个真空处理腔室包括第一真空处理腔室,...
王桂磊
马雪丽
项金娟
赵超
半导体
设备
本实用新型涉及一种
半导体
设备
。所述
半导体
设备
包括主机台和门板,所述主机台的腔室开口处设置有插销传感器和磁力装置,所述门板的一端与主机台转动连接,另一端边缘设置有磁吸插销,在门板的所述另一端靠近所述主机台即进行关门动作以密...
樊梦柯
阚保国
徐康
陈伏宏
半导体
设备
保养周期预测方法、
设备
、介质及产品
本申请实施例涉及
设备
维护领域,公开了一种
半导体
设备
保养周期预测方法、
设备
、介质及产品。方法包括采集
半导体
设备
触发保养条件时,
设备
运行参数的样本;所述样本包括采集时间和触发值;计算每个所述样本的触发速率,所述触发速率为所述...
邓团圆
肖武闯
高建涛
半导体
设备
的状态的多传感器确定
提供用于
半导体
设备
的状态的多传感器确定的方法和装置。在本文公开的一些实施方案中,
半导体
制造
设备
可以包括:多个传感器,其包括设置于该
半导体
制造周围的一个或更多个空间传感器、一个或更多个光谱传感器、以及一个或更多个时间传感器...
卡皮尔·索拉尼
保罗·弗兰岑
米格尔·本杰明·瓦斯克斯
本杰明·童·叶
保罗·康科拉
约翰·瓦利
位置检测装置、
半导体
设备
及检测基板偏移量的方法
本发明公开了一种位置检测装置、
半导体
设备
及检测基板偏移量的方法,位置检测装置包括检测区域、多个检测器和控制器,多个检测器配置在检测区域,当机械手和基板置于检测区域时,多个检测器被配置为:分别向基板表面发射一具有一宽度的检...
徐飞
袁凯杰
吴均
王晖
李康植
半导体
设备
、用于控制
半导体
设备
的方法和控制程序
本公开涉及
半导体
设备
、用于控制
半导体
设备
的方法和控制程序。根据本公开的
半导体
设备
包括:比较器电路;计数器电路;以及锁存电路,该锁存电路在比较器电路的输出信号改变的时刻存储计数器电路的计数值,计数器电路包括:多相信号发生器...
森下玄
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王凯
作品数:19
被引量:0
H指数:0
供职机构:北京七星华创电子股份有限公司
研究主题:半导体设备 硅片 承载器 叠片 通信系统
王丽荣
作品数:34
被引量:0
H指数:0
供职机构:北京七星华创电子股份有限公司
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徐冬
作品数:78
被引量:5
H指数:2
供职机构:北京七星华创电子股份有限公司
研究主题:硅片 承载器 半导体 异常状态 半导体设备
王绍勇
作品数:25
被引量:2
H指数:1
供职机构:沈阳芯源微电子设备有限公司
研究主题:半导体设备 晶圆 变型 半导体 安全传送
张海轮
作品数:27
被引量:2
H指数:1
供职机构:北京七星华创电子股份有限公司
研究主题:半导体设备 氧化炉 控制方法 立式 硅片
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